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史梦然

作品数:4 被引量:7H指数:2
供职机构:华北光电技术研究所更多>>
相关领域:电子电信金属学及工艺更多>>

文献类型

  • 4篇中文期刊文章

领域

  • 2篇金属学及工艺
  • 2篇电子电信

主题

  • 2篇INSB
  • 1篇电流-电压特...
  • 1篇电压特性
  • 1篇镀层
  • 1篇钝化
  • 1篇钝化层
  • 1篇预处理
  • 1篇能谱
  • 1篇力学特性
  • 1篇金属
  • 1篇金属薄膜
  • 1篇金属化
  • 1篇光电
  • 1篇光电二极管
  • 1篇红外
  • 1篇红外窗口
  • 1篇俄歇电子
  • 1篇俄歇电子能谱
  • 1篇二极管
  • 1篇封装

机构

  • 4篇华北光电技术...

作者

  • 4篇史梦然
  • 1篇赵建忠
  • 1篇王新宇
  • 1篇曹雪峰
  • 1篇段建春
  • 1篇宁玮
  • 1篇肖钰

传媒

  • 4篇激光与红外

年份

  • 1篇2018
  • 1篇2016
  • 1篇2014
  • 1篇2011
4 条 记 录,以下是 1-4
排序方式:
InSb单元及线列器件I-V特性失效分析
2018年
InSb单元及线列器件广泛应用于中波红外探测器的研制。InSb器件I-V中测筛选既可以有效地检测出适于装配使用的合格芯片,还可对前道工艺存在的问题实现有效监控和反馈。本文采用半导体参数分析仪对InSb单元及线列器件进行I-V测试,对日常测试中出现的I-V失效进行归纳,并对典型失效情况进行了失效原因分析,发现影响探测器芯片直流特性的主要因素是表面漏电。
史梦然史梦思
关键词:INSB光电二极管电流-电压特性
表面预处理对InSb钝化层界面的影响被引量:4
2014年
本文介绍了采用不同的方法对InSb表面进行表面预处理,来改善InSb钝化膜层的电学性能。通过对InSb MIS结构进行C-V测试来评价不同方法预处理制备的钝化结构的电学特性。结果表明等离子预处理能明显改善InSb衬底和钝化层之间的界面性能,尤其是选用N2O等离子预处理InSb衬底表面,在控制界面陷阱和减少钝化层固定电荷方面,效果更明显,有利于提高InSb红外器件的可靠性。
肖钰史梦然宁玮段建春
关键词:INSB钝化预处理
MEOMS封装的锗窗金属化结构界面特性研究被引量:1
2016年
基于微光机电系统对真空封装的要求,采用磁控溅射法在锗窗口上制备不同膜系的金属化结构,研究在相同的热处理条件下,不同膜系结构对锗窗口界面特性的影响。采用俄歇电子能谱分析原子在膜层间和膜基间的扩散行为。采用划痕测试仪分析膜基间的力学性能。结果表明:Ni元素对Au元素的阻挡效果明显,Cr/Ge的界面扩散剧烈。Cr/Ni/Au金属化结构的膜基结合力为14N,优于其他膜系结构,对于提高锗窗膜基结合强度效果最显著。
王新宇史梦然
关键词:金属化俄歇电子能谱
热处理对红外窗口镀层金属的影响被引量:2
2011年
采用直流磁控溅射法制备红外透过窗口Ge窗的镀层金属。分别讨论了热处理温度和热处理时间对Ge窗金属化体系力学特性的影响。用纳米压痕仪测试仪测试Ge窗金属化体系的显微力学特性,并用金相显微镜观测金属薄膜的表面形貌,发现退火温度对Ge窗片上的金属薄膜的力学特性有较明显影响。
史梦然曹雪峰赵建忠
关键词:金属薄膜力学特性
共1页<1>
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