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任俊华

作品数：1 被引量：8H指数：1
供职机构：中国电子科技集团第十三研究所更多>>
相关领域：理学一般工业技术电子电信更多>>

合作作者

文献类型

  • 1篇中文期刊文章

领域

  • 1篇电子电信
  • 1篇一般工业技术
  • 1篇理学

主题

  • 1篇电路
  • 1篇自激
  • 1篇自激振荡
  • 1篇微波集成
  • 1篇微波集成电路
  • 1篇可靠性
  • 1篇老炼
  • 1篇集成电路
  • 1篇夹具

机构

  • 1篇中国电子科技...

作者

  • 1篇王弘英
  • 1篇任俊华

传媒

  • 1篇电子产品可靠...

年份

  • 1篇2016
共 1 条 记 录，以下是 1-1
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排序方式：
微波集成电路的老炼试验技术被引量：8
2016年
微波集成电路(MIC)是雷达和微波通信系统中的关键部分,其可靠性试验对于保证交付产品的质量具有重要的作用。老炼试验是可靠性筛选的关键一环,因而也是产品质量保证的重要手段。对MIC老炼试验技术进行了研究,并针对老炼夹具的设计、ESD与EMP防护和自激振荡的预防与消除提出了具体的解决措施。
任俊华赵鑫燚王弘英
关键词：微波集成电路夹具自激振荡可靠性
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共1页<1>
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