您的位置: 专家智库 > >

丁俊

作品数:2 被引量:8H指数:2
供职机构:中国航空综合技术研究所更多>>
发文基金:中国航空科学基金更多>>
相关领域:电气工程电子电信更多>>

文献类型

  • 2篇中文期刊文章

领域

  • 1篇电子电信
  • 1篇电气工程

主题

  • 2篇有限元
  • 1篇引线
  • 1篇有限元法
  • 1篇有限元法分析
  • 1篇有限元分析
  • 1篇失效模式
  • 1篇热疲劳寿命
  • 1篇可靠性
  • 1篇SOP

机构

  • 2篇中国航空综合...
  • 1篇中国科学院

作者

  • 2篇任超
  • 2篇丁俊
  • 1篇曾晨晖
  • 1篇谢秀娟
  • 1篇魏莱
  • 1篇徐文正
  • 1篇罗成
  • 1篇邵将

传媒

  • 1篇半导体技术
  • 1篇电子元件与材...

年份

  • 1篇2014
  • 1篇2011
2 条 记 录,以下是 1-2
排序方式:
SOP器件的随机振动可靠性试验和有限元分析被引量:2
2014年
基于有限单元法建立了小外形封装(SOP)器件三维模型,对比分析了随机振动载荷下3种引线结构对器件互连可靠性的影响,并制备试验样件,开展振动步进试验和振动疲劳试验对数值模拟进行了验证。试验和模拟结果均表明,振动载荷下器件互连失效模式一般表现为引线断裂,失效位置集中在引线与封装侧的弯角处;振动疲劳寿命并不直接决定于结构刚度,降低引线的应变水平能够有效地提升耐振能力。数值计算和试验结果吻合,能够准确地反映产品的实际情况。
任超曾晨晖邵将魏莱丁俊
关键词:SOP可靠性失效模式
层叠封装热疲劳寿命的有限元法分析被引量:6
2011年
针对典型的层叠封装建立了三维有限元模型,并采用有限元方法对封装在热循环载荷下的行为进行了数值模拟。在模拟计算中,Anand的粘塑性本构方程被用来描述SnAgCu焊球的力学行为。利用Engelmaier修正的Coffin-Masson疲劳公式对最易失效的焊球进行了寿命计算。结果表明,层叠封装中下层焊球的应力大于上层焊球,最易发生破坏的焊球位于下层阵列的边角处,模型中最危险焊球的寿命为791周。
任超罗成谢秀娟丁俊徐文正
关键词:有限元法热疲劳寿命
共1页<1>
聚类工具0