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李萍

作品数：1 被引量：0H指数：0
供职机构：中国电子产品可靠性与环境试验研究所更多>>
相关领域：电子电信更多>>

合作作者

文献类型

  • 1篇中文期刊文章

领域

  • 1篇电子电信

主题

  • 1篇微波器件

机构

  • 1篇中国电子产品...

作者

  • 1篇来萍
  • 1篇牛付林
  • 1篇张晓明
  • 1篇郑廷珪
  • 1篇施明哲
  • 1篇李少平
  • 1篇李萍
  • 1篇徐爱斌

传媒

  • 1篇固体电子学研...

年份

  • 1篇2005
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排序方式：
50例微波器件失效分析结果汇总与分析
2005年
对约50例微波器件失效分析结果进行了汇总和分析,阐述了微波器件在使用中失效的主要原因、分类及其分布。汇总情况表明,由于器件本身质量和可靠性导致的失效约占80%,其余20%是使用不当造成的。在器件本身的质量和可靠性问题方面,具体失效机理有引线键合不良、芯片缺陷(包括沾污、裂片、工艺结构缺陷等)、芯片粘结、管壳缺陷、胶使用不当等;在使用不当方面,主要是静电放电(ESD)损伤和过电损伤(EOS),EOS损伤中包括输出端失配、加电顺序等操作不当引入的过电应力等。
来萍李萍张晓明李少平徐爱斌施明哲牛付林郑廷珪
关键词：微波器件
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