施明哲
- 作品数：26 被引量：28H指数：3
- 供职机构：信息产业部电子第五研究所更多>>
- 发文基金：国家自然科学基金广东省自然科学基金更多>>
- 相关领域：电子电信机械工程电气工程金属学及工艺更多>>
- 继电器触点接触电阻偏大的失效机理研究
- 本文用试验的方法研究了继电器触点接触电阻增大的失效机理。试验中分别用扫描电镜和X射线能谱仪观察失效样和正常样的触点形貌并分析触点表面的元素成份,再用红外光谱仪验证了触点污染物的来源。根据试验的分析结果,讨论了触点失效的机...
- 李继伟施明哲刘子莲
- 关键词：密封继电器触点接触电阻
- 文献传递
- 继电器触点接触电阻偏大的失效机理研究
- 本文用试验的方法研究了继电器触点接触电阻增大的失效机理.试验中分别用扫描电镜和X射线能谱仪观察失效样和正常样的触点形貌并分析触点表面的元素成份,再用红外光谱仪验证了触点污染物的来源.根据试验的分析结果,讨论了触点失效的机...
- 李继伟施明哲刘子莲
- 关键词：密封继电器接触电阻扫描电镜触点材料
- 文献传递
- 微波器件失效分析结果统计与分析
- 本文对56例微波器件失效分析结果进行了统计和分析,得到了微波器件在使用中失效的主要原因、分类及其分布,为微波器件的生产方和使用方提供了有价值的统计数据及分析结果.
- 来萍李萍张晓明郑廷珪李少平徐爱斌施明哲牛付林何小琦
- 关键词：微波器件统计分析可靠性
- 文献传递
- 环形固体背散射探测器的最佳检测距离
- 2003年
- 施明哲马鑫
- 关键词：信噪比扫描电子显微镜
- 芒秆表皮层的SEM-EDAX研究被引量：6
- 2002年
- 用SEM -EDAX法研究芒秆茎部表皮层的结构及元素组成 ,并对茎部纤维、薄壁细胞及叶部的元素组成进行测定。结果表明 ,芒秆茎杆表皮层的外表面仅由C、O、Si、K等元素组成 ,Si含量高达 6 0 % ,Si的粒度小且分布较均匀 ;表皮层是由C、O、Si、Al、Ca、K、Fe、Na等元素构成的结构复杂的复合材料层 ,外层角化程度较高 ,Si含量较低 ;里层的角化程度较低 ,但Si含量最高。表皮层的结构及形成机理有待进一步研究。薄壁细胞及叶部中含矿质元素的种类最多 ,含量也高 。
- 邱玉桂林鹿施明哲
- 关键词：芒秆表皮层矿质元素复合材料造纸原料
- 电子材料分析中的能谱干扰峰被引量：7
- 2002年
- 主要阐述了在电子元器件分析中用能谱仪作定性分析时常见的一些干扰峰和容易混淆及误判的一些谱峰。主要有和峰、逃逸峰以及一些在元器件材料分析中常遇到的元素特征峰之间的交错重叠的识别和判定方法,并把这些容易误判的谱线整理列成3种表格,以供参考,这些数据基本覆盖了在X射线能谱仪中可能出现的所有相关的谱峰。
- 施明哲董本霞
- 关键词：电子材料能谱仪
- 环形固体背散射探测器的最佳检测距离
- 在扫描电子显微镜中背散射电子像是一种很常用的电子图像.要得到一幅清晰、理想的背散射电子像,对于不同型号的探测器其最佳工作距离不同、应根据尺寸和形状计算其最佳工作距离.
- 施明哲马鑫
- 关键词：扫描电镜
- 文献传递
- 一种新型的单引出端EBIC成像技术
- 该文从晶体管的原理入手，详细介绍了这种国外刚提出的新型的单引出端的EBIC的衬度机理以及用这种新技术来做大规模集成电路的失效分析。这种新技术是把集成电路的初底引接到样品电流放大器的输入端，而做出来的EBIC像。用这种新的...
- 施明哲费庆宇
- 关键词：成像技术
- 文献传递
- 提高能谱仪定量分析准确度的探讨
- 本文就围绕着如何才能把能谱的定量分析结果做的准确这个能谱用户最关心的问题,从电镜、能谱仪和样品这三方面人手展开探讨.文中首先讨论SEM的加速电压、空间分辨力、电子源、光栏和束斑、出射角以及工作距离等;然后再讨论谱仪本身的...
- 施明哲张惠朱惠姬
- 关键词：加速电压能谱仪
- 文献传递
- 多层金属化结构VLSI芯片的解剖技术--反应离子腐蚀(RIE)及其在失效分析中的应用
- 本文介绍了多层金属化结构VLSI芯片的解剖技术--反应离子腐蚀去钝化层法,包括其原理、与其他芯片解剖技术的比较以及各种工艺参数对该技术的影响,并列举了几个实用例子.反应离子腐蚀法实现了芯片表面和内部结构的可观察性和可探测...
- 林晓玲费庆宇章晓文施明哲
- 关键词：集成电路
- 文献传递
