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文献类型

  • 1篇中文期刊文章

领域

  • 1篇理学

主题

  • 1篇密度泛函
  • 1篇密度泛函理论
  • 1篇密度泛函理论...
  • 1篇化学吸附
  • 1篇泛函
  • 1篇泛函理论
  • 1篇富勒烯
  • 1篇SI(001...

机构

  • 1篇中国地质大学

作者

  • 1篇姚淑娟
  • 1篇吴金平
  • 1篇韩波
  • 1篇周成冈
  • 1篇樊婷

传媒

  • 1篇武汉大学学报...

年份

  • 1篇2007
1 条 记 录,以下是 1-1
排序方式:
小富勒烯C_(28)在Si(001)-c(2×1)表面吸附的密度泛函理论研究被引量:1
2007年
采用第一原理密度泛函理论方法研究了小富勒烯C28在Si(001)-c(2×1)表面的化学吸附机理,分析了吸附前后基底和富勒烯构型的变化、吸附能、电荷转移以及电子态密度.结果表明:C28与Si(001)表面具有很强的相互作用;基底和富勒烯分子发生了晶格松弛和结构扭曲;C28位于Si(001)表面沟渠位置的吸附构型最稳定,吸附能达到5.00 eV;Si(001)表面沉积C28后表面导电性能明显增强.
樊婷姚淑娟周成冈韩波吴金平
关键词:密度泛函理论SI(001)化学吸附
共1页<1>
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