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李倩

作品数：2 被引量：4H指数：1
供职机构：中国电子科技集团公司第四十七研究所更多>>
相关领域：电子电信更多>>

合作作者

文献类型

  • 2篇中文期刊文章

领域

  • 2篇电子电信

主题

  • 1篇电路
  • 1篇电路设计
  • 1篇多项式
  • 1篇循环冗余校验
  • 1篇异或
  • 1篇冗余
  • 1篇冗余校验
  • 1篇湿法腐蚀
  • 1篇凸角补偿
  • 1篇氢氧化
  • 1篇氢氧化钾
  • 1篇集成电路
  • 1篇集成电路设计
  • 1篇各向异性腐蚀
  • 1篇硅
  • 1篇CRC

机构

  • 2篇中国电子科技...

作者

  • 2篇李倩
  • 1篇李湘君
  • 1篇杨东
  • 1篇崔鑫
  • 1篇杨菊瑾

传媒

  • 2篇微处理机

年份

  • 1篇2012
  • 1篇2010
共 2 条 记 录，以下是 1-2
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排序方式：
循环冗余校验在集成电路设计中的具体实现被引量：1
2010年
循环冗余校验,即CRC(Cyclic Redundancy Check)。循环冗余校验的编码方法简单,检错能力强,误判概率低,是数据传输中常用的重要校验方法之一。着重介绍了循环冗余校验的基本原理,并举例说明了循环冗余校验在集成电路设计中的具体实现。
杨东杨菊瑾李倩
关键词：多项式异或
硅各向异性腐蚀技术研究被引量：3
2012年
针对两种补偿结构探讨了硅的凸角腐蚀补偿原理,设计了补偿版图,并在KOH腐蚀液中进行实验验证,获得了好的直角凸面补偿效果。
李倩崔鑫李湘君
关键词：氢氧化钾湿法腐蚀凸角补偿
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共1页<1>
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