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王菲

作品数：2 被引量：1H指数：1
供职机构：中国电子科技集团第五十八研究所更多>>
相关领域：电子电信更多>>

合作作者

文献类型

  • 2篇中文期刊文章

领域

  • 2篇电子电信

主题

  • 1篇电路
  • 1篇电路测试
  • 1篇圆针
  • 1篇集成电路
  • 1篇集成电路测试
  • 1篇IC
  • 1篇MSA

机构

  • 2篇中国电子科技...

作者

  • 2篇王菲
  • 1篇邹巧云
  • 1篇黄芝花

传媒

  • 1篇电子质量
  • 1篇电子与封装

年份

  • 1篇2018
  • 1篇2016
共 2 条 记 录，以下是 1-2
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排序方式：
晶圆针测针痕异常问题分析和改善方法
2018年
介绍了集成电路晶圆针测经常出现的两种针痕异常问题。针对异常问题发生的原因、对测试的影响进行了探讨，并提出了针对这几种异常问题的改善方法。通过从人、机、料、法等方面采取措施来控制异常问题的发生，从而确保晶圆测试的良品率，并提高产品测试结果的准确性、可靠性和可信度。
王菲裴仁国黄芝花邹巧云
测量系统分析在集成电路测试中的应用被引量：1
2016年
测量系统分析(MSA)是六西格玛管理的一项重要内容。在产品的质量管控中,高质量的测量数据,对产品的分析及改进有很大的帮助。在集成电路(IC)测试中,为了确保测试的准确性,获得高质量的测试数据,就需要对的测试系统进行充分的分析。该文介绍了测量系统分析方法,着重介绍重复性和再现性研究、分析,并通过实例说明IC测试中的测量系统分析的应用。并根据测量系统能力的评价规则对所分析的测试系统能力进行评价,判断测量系统是否满足IC测试要求。
王菲傅铮翔
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共1页<1>
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