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黄芝花

作品数：2 被引量：0H指数：0
供职机构：中国电子科技集团第五十八研究所更多>>
相关领域：电子电信更多>>

合作作者

文献类型

  • 2篇中文期刊文章

领域

  • 2篇电子电信

主题

  • 1篇圆针
  • 1篇统计特性
  • 1篇关键参数
  • 1篇测试系统
  • 1篇M

机构

  • 2篇中国电子科技...

作者

  • 2篇黄芝花
  • 1篇周亚丽
  • 1篇邹巧云
  • 1篇王菲

传媒

  • 2篇电子与封装

年份

  • 1篇2018
  • 1篇2006
共 2 条 记 录，以下是 1-2
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排序方式：
晶圆针测针痕异常问题分析和改善方法
2018年
介绍了集成电路晶圆针测经常出现的两种针痕异常问题。针对异常问题发生的原因、对测试的影响进行了探讨，并提出了针对这几种异常问题的改善方法。通过从人、机、料、法等方面采取措施来控制异常问题的发生，从而确保晶圆测试的良品率，并提高产品测试结果的准确性、可靠性和可信度。
王菲裴仁国黄芝花邹巧云
测试系统分析方法研究
2006年
文中介绍了一种用于测试系统的分析方法,通过测试系统分析了解生产过程中使用的设备的变差,并对不合格的设备进行分析、改进,提高集成电路测试数据的真实性和准确性；减少产品在测试、检验过程中误判的可能性。
周亚丽黄芝花
关键词：关键参数统计特性
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共1页<1>
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