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王娜
作品数:
1
被引量:1
H指数:1
供职机构:
中芯国际集成电路制造有限公司
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相关领域:
电子电信
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合作作者
何俊明
中芯国际集成电路制造有限公司
丁育林
中芯国际集成电路制造有限公司
刘云海
中芯国际集成电路制造有限公司
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何俊明
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半导体技术
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1篇
2011
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α粒子加速软失效率测试的稳定性研究
被引量:1
2011年
半导体器件软错误的发生具有几率低、间隔时间长的特点。资源有限条件的下实现对器件软失效率的评估需要借助放射源加速的方法,即加速软失效率测试。作为改进设计和工艺以降低软失效率的前提,就测试方法稳定性进行了系统研究。通过对两种不同制程的静态随机存储器芯片(SRAM)进行α粒子加速软失效率测试,提出了确保α粒子加速测试稳定的方法。基于相同测试条件下多次测量结果变化和测试时间的关系,给出了合理的加速软失效测试的时间推荐值,保证了测试结果的有效性。
王娜
何俊明
刘云海
丁育林
丁佳妮
关键词:
Α粒子
软错误
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