滕瑞
- 作品数:22 被引量:8H指数:1
- 供职机构:中国科学院微电子研究所更多>>
- 发文基金:国家自然科学基金更多>>
- 相关领域:电子电信理学自动化与计算机技术电气工程更多>>
- 一种半导体缺陷表征的方法、装置、系统、设备及介质
- 本发明公开了一种半导体缺陷表征的方法、装置、系统、设备及介质,包括:获取待测样品材料类型,其中,所述待测样品为半导体材料;基于所述待测样品材料类型,调整所述待测样品的温度;基于二次谐波表征方法,对调整温度后的所述待测样品...
- 赵泓达李博王磊王然张紫辰张昆鹏罗家俊滕瑞
- 文献传递
- 加扰技术对模数转换器性能的影响
- 2022年
- 分析了加扰技术改善ADC性能的基本原理,通过选择合适的扰动信号注入到理想量化器模型中进行仿真,验证了加扰技术能够随机化量化误差的周期性三角形分布。在加扰技术的实际应用中,首先基于10 bit 25 MS/s Pipelined ADC模型完成加扰仿真,仿真得到ADC的SFDR由74.69 dB提高到了85 dB。然后对两种ADC芯片进行加扰实验,该加扰技术使两种ADC芯片的SFDR分别提高了8.29 dB和5.97 dB。理论仿真和实验验证了加扰技术可以明显提高ADC的SFDR,为后期ADC内部集成加扰电路模块做好了准备工作。
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- 关键词:加扰ADCSFDR
- 基于静态输入检测的ADC单粒子效应测试系统
- 2022年
- 采用静态输入检测技术,提出并实现了一个模数转换器(ADC)单粒子效应评估测试系统。该系统基于面向仪器系统的外围组件互联扩展平台(PXI)搭建。利用PXI触发模式控制模块化仪器的高速响应,并采用实时判决的方法对ADC输出数据进行监测。基于该系统对一种自主研发的10位25 MS/s ADC进行单粒子效应辐照试验。试验结果表明,该系统能够准确、高效评估ADC抗辐照性能,为抗辐照ADC的加固设计提供支撑平台。
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- 关键词:ADC单粒子效应PXI
- 高速模数转换器的关键测量技术被引量:1
- 2022年
- 对高速ADC的测量技术进行了分析研究,提出了基于高速ADC AD9433的测量方案。系统阐述了两类模拟输入驱动电路原理,详细介绍了两种模拟驱动电路和时钟电路抖动的分析方法。将上述理论分析应用于AD9433测量方案,测量结果证明了上述理论分析的正确性。
- 张琳张琳刘涛刘涛刘涛滕瑞刘海南赵发展滕瑞李博
- 关键词:高速ADC时钟抖动
- 单光子源器件及其制备方法
- 本发明公开了一种单光子源器件及其制备方法,通过设置电极层、单光子源层以及场发射微尖结构,其中,单光子源层为通过六方氮化硼材料形成的单光子源层,将单光子源层和场发射微尖结构键合,且场发射微尖结构的场发射区域覆盖所述单光子源...
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- 一种二次谐波测量方法及测量仪器
- 本申请公开一种二次谐波测量方法及测量仪器,方法包括:获取第一光信号,所述第一光信号通过滤掉经过待测样品反射回来的反射基波光信号获得;获取第二光信号,所述第二光信号包括经过所述待测样品反射回来的反射基波光信号;根据所述第二...
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- 一种单片异质集成结构及制备方法
- 本发明公开了一种单片异质集成结构及制备方法,所述结构,包括:自底向上依次设置的衬底、成核层、缓冲层、化合物半导体层、氧化层及硅层;所述硅层为晶格为100面的硅,以便于在所述硅层上制备器件和电路。在硅层和化合物层之间设置氧...
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- 辐射效应测试方法及系统
- 本发明公开了一种辐射效应测试方法及系统,用于对待测电压源模块的辐射效应进行测试,包括:待测电压源模块处于未被辐射源模块辐射的状态时,待测电压源模块输出的第一输出电压为模数转换模块提供第一参考电压信号,模数转换模块采集固定...
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- 一种处理半导体激光器的方法
- 本发明公开了一种处理半导体激光器的方法,该方法包括:在半导体激光器的制备过程中,利用预设辐照源对半导体激光器进行辐照处理,以提高所述半导体激光器的调制带宽,其中,所述辐照源为粒子辐照源。通过在半导体激光器的制备过程中,利...
- 单小婷赵发展孙昀王磊李博高见头罗家俊滕瑞
- 一种二次谐波测量方法及测量仪器
- 本申请公开一种二次谐波测量方法及测量仪器,方法包括:获取入射激光束以第一入射角度照射在待测样品上形成的第一光斑面积;根据所述第一光斑面积和第一光学参数,获取标准光学功率密度;获取所述入射激光束以第二入射角度照射在所述待测...
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