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王天丰

作品数:1 被引量:5H指数:1
供职机构:武汉大学口腔医学院更多>>
发文基金:中央高校基本科研业务费专项资金国家自然科学基金更多>>
相关领域:医药卫生更多>>

文献类型

  • 1篇中文期刊文章

领域

  • 1篇医药卫生

主题

  • 1篇牙本质
  • 1篇植酸
  • 1篇扫描电镜
  • 1篇玷污层
  • 1篇效力
  • 1篇根管
  • 1篇根管玷污层

机构

  • 1篇武汉大学

作者

  • 1篇撒悦
  • 1篇曹茜茜
  • 1篇蒋滔
  • 1篇王天丰

传媒

  • 1篇口腔医学研究

年份

  • 1篇2016
1 条 记 录,以下是 1-1
排序方式:
植酸作为螯合剂去除根管玷污层的效力及其对牙本质化学组成的影响被引量:5
2016年
目的:通过体外实验评价植酸(IP6)作为根管螯合剂去除次氯酸钠溶液处理的牙本质表面玷污层的效力,探究其对次氯酸钠溶液处理的牙本质化学组成的影响。方法:24个完整无龋正畸牙取得牙本质样本随机分成4组。A组:2mL去离子水(pH7.4)处理5min;B组:2 mL 5%NaClO溶液(pH12)处理5 min;C组:2 mL 5%NaClO溶液处理5min后,2mL 17%EDTA溶液(pH7.5)处理1 min;D组:2 mL 5%NaClO溶液处理5 min后,2mL 1%IP6溶液(pH1.3)处理1min。SEM观察样本表面玷污层去除情况,衰减全反射红外光谱仪(ATR-IR)测量样本红外光谱,得到处理前后的M:M(matrix:mineral)和C:M(carbonate:mineral)。以双因素重复测量方差分析比较差异。结果:SEM显示处理后A组仍有大量玷污层剩余,B组玷污层去除效果不明显,C组玷污层基本完全去除,D组玷污去除效果更加明显。ATR-IR结果经统计分析后发现,A组M:M处理前后无显著差异(P=0.744),B、C、D组均显著下降(P<0.01);处理后B、C、D组明显低于A组(P<0.01),而该3组间无显著差异(P>0.05);四组C:M处理后均略低于处理前(P<0.01)。结论:植酸能够有效地去除经次氯酸钠溶液处理后的牙本质表面的玷污层,并且其与EDTA对牙本质本身化学组成的影响无显著差别。
王天丰曹茜茜撒悦蒋滔
关键词:植酸牙本质玷污层扫描电镜
共1页<1>
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