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文献类型

  • 2篇期刊文章
  • 1篇会议论文

领域

  • 2篇电子电信
  • 1篇自动化与计算...

主题

  • 1篇电路
  • 1篇有源箝位
  • 1篇正激
  • 1篇正激变换器
  • 1篇失效物理
  • 1篇转换器
  • 1篇箝位
  • 1篇微处理器
  • 1篇集成电路
  • 1篇功率密度
  • 1篇仿真
  • 1篇高功率密度
  • 1篇变换器
  • 1篇变换器设计
  • 1篇VLSI
  • 1篇A/D
  • 1篇A/D转换
  • 1篇A/D转换器
  • 1篇测试技术
  • 1篇超大规模集成

机构

  • 3篇中国电子科技...
  • 1篇电子科技大学
  • 1篇中国空间技术...

作者

  • 3篇罗俊
  • 3篇刘丹妮
  • 1篇徐学良
  • 1篇蔡建荣
  • 1篇王健安
  • 1篇徐祯
  • 1篇邱忠文
  • 1篇朱海
  • 1篇赵敏杰

传媒

  • 1篇电子产品可靠...
  • 1篇微电子学

年份

  • 1篇2021
  • 2篇2011
3 条 记 录,以下是 1-3
排序方式:
采用磁集成技术的有源箝位正激变换器设计被引量:6
2011年
针对3.3 V/10 A低压大电流输出、高功率密度电源模块的设计要求,结合有源箝位正激拓扑理论和磁集成技术,提出采用磁集成技术的有源箝位正激变换器;对变换器中的主变压器和输出电感进行集成,得到高效率、高功率密度的有源箝位正激变换器。
罗俊徐祯朱海刘丹妮赵敏杰
关键词:磁集成技术有源箝位正激变换器高功率密度
A/D转换器强化试验仿真技术研究
2021年
可靠性强化试验可以快速地暴露产品存在的潜在缺陷,有助于消除产品薄弱环节和提高可靠性。为了提升国产A/D转换器的质量与可靠性,对A/D转换器的可靠性强化试验方法进行了研究,为了提高试验的效率和有效性,提出了基于失效物理仿真分析的应力因素评价方法,通过器件敏感应力评价结合仿真技术得到了产品的关键应力因素和最优正交剖面。
罗俊刘丹妮谭骁洪吴兆希应广祺
关键词:A/D转换器失效物理仿真
VLSI测试技术现状及发展趋势
近年来,随着集成电路制造工艺的飞速发展,集成电路制造技术已从深亚微米进入到纳米技术阶段,集成电路系统集成度得到迅速提高,超大规模集成电路测试技术已逐渐成为制约集成电路研发成本和周期的“瓶颈”。全面介绍了VLSI的主要测试...
刘丹妮罗俊邱忠文徐学良王健安蔡建荣
关键词:微处理器超大规模集成电路
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