罗俊
- 作品数：121 被引量：177H指数：7
- 供职机构：中国电子科技集团第二十四研究所更多>>
- 发文基金：国家自然科学基金国际科技合作与交流专项项目模拟集成电路重点实验室基金更多>>
- 相关领域：电子电信一般工业技术电气工程自动化与计算机技术更多>>
- 八选一输入模数转换器性能参数实时测试系统及方法
- 本发明属于自动化测试领域，具体为八选一输入模数转换器性能参数实时测试系统及方法，系统包括被测电路箱、继电器切换板、测试单元、直流稳压电源、外接仪器以及控制端；被测电路箱包括箱体，箱体内放置有夹具转接板，夹具转接板上有两个...
- 吴兆希罗俊朱朝轩吴瀚
- 文献传递
- 硅基半导体集成电路失效分析研究
- 结合典型硅基半导体集成电路的失效电路分析,讨论了闩锁效应、过电应力、静电应力等常见失效机理对硅基半导体集成电路的影响.文章首先从理论角度介绍了硅基半导体集成电路的常见失效机理,并对其分析失效原因进行了分析.最后,结合典型...
- 黄炜付晓君罗俊刘凡刘伦才
- 关键词：闩锁效应
- 一种低抖动分频时钟电路
- 本发明提供一种低抖动分频时钟电路，包括：钟控信号产生电路，用于生成相位不同的时钟信号；低电平窄脉宽钟控信号产生电路，用于生成低电平窄脉宽钟控信号；高电平窄脉宽钟控信号产生电路，用于生成高电平窄脉宽钟控信号；分频时钟合成电...
- 刘涛王健安王育新陈光炳付东兵李儒章胡盛东张正平罗俊徐代果邓民明王妍
- 文献传递
- 半导体器件老炼筛选试验设计被引量：4
- 2014年
- 老炼筛选试验是有效剔除内含固有工艺缺陷的半导体器件,以及保证半导体器件使用可靠性的重要途径。本文阐述了半导体器件早期失效的基本概念,并给出了半导体器件早期失效率的预计方法。在此基础上提出了半导体器件老炼筛选试验设计方法,以期最大限度地保证半导体器件出厂后的使用可靠性。
- 罗俊陈世钗胡盛东刘凡赵胜雷陈浩然晏开华王媛
- 关键词：半导体器件
- Bi_2O_3掺杂对NiCuZn/PZT复合材料电磁性能的影响被引量：1
- 2008年
- 先采用sol-gel法制得Pb0.95Sr0.05(Zr0.52Ti0.48)O3(PZT)纳米粉料,再采用固相反应法制备NiCuZn/PZT铁氧体/陶瓷复合材料。研究了低温烧结助剂Bi2O3掺杂对复合材料显微结构和电磁性能的影响。当w(Bi2O3)为2.5%时,NiCuZn与PZT的质量比为7:3和6:4的两种复合材料在900℃下均可实现低温烧结,其烧结体密度均大于5g/cm3。其中,7:3的μ′达到27,ε′大于34;6:4的μ′达到16,ε′大于50,均有望制作成不同性能指标的电感、电容双功能材料。
- 陈世钗贾利军张怀武罗俊况佳
- 关键词：电子技术电磁性能显微结构
- 密封器件内部水汽和氢气的分析及控制方法
- 2023年
- 密封器件内部水汽和氢气超标会导致器件参数漂移、电性能退化、可靠性降低,这将给整机的质量可靠性带来潜在的危害。针对密封器件内部水汽和氢气的控制,本文从气密性、封装工艺、封装材料、封装环境方面讨论了内部气氛的来源,并阐述了内部水汽和氢气对器件的潜在危害。为控制密封器件内部水汽和氢气,本文从过程控制出发提出了一些合理化建议,进而为内部气氛的深入研究提供参考。
- 韩星王永琴岑政陈瑶粟嘉伟罗俊
- 关键词：水汽含量可靠性
- 收发组件波控芯片测试系统的研究被引量：1
- 2013年
- 从分析收发(T/R)组件波控芯片的工作原理及主要测试参数出发,研究了一种小型化自动测试系统。利用FPGA完成数据发送及数据检测,可以大大降低成本、增强系统集成度,使整个测试系统的体积小、重量轻、成本低。经实际测试验证,该测试系统能够有效地完成T/R组件波控芯片的全参数自动测试。
- 晏开华曾未来蒲璞罗俊
- 关键词：收发组件现场可编程门阵列自动测试系统
- 集成电路标准规范中的LTPD抽样浅析被引量：1
- 2012年
- 介绍了集成电路失效率抽样检查的基础理论,论述集成电路标准规范中最常用的LTPD方案,并对LTPD抽样方案中的抽样样本大小进行了计算。
- 秦国林许斌罗俊
- 关键词：集成电路失效率
- 一种半导体器件温湿度复合应力加速模型优选方法
- 本发明公开了半导体器件应力加速模型优选方法，包括：筛选合格的样品并分组；对其中一组进行正常应力退化试验，对另外五组进行加速退化试验；周期性对样品可能的敏感参数进行检测并记录；确定试验样品敏感参数及其退化轨迹模型；外推得到...
- 黄炜罗俊刘凡刘华辉付晓君刘伦才
- 文献传递
- 模拟集成电路可靠性技术探讨
- 2011年
- 高性能模拟集成电路产品需要复杂的工艺来实现高速、低噪声、高精度等要求,这些复杂性给各种技术都带来了严峻的可靠性考验。重点阐述了通用IC工艺器件的可靠性机理和面临的可靠性挑战。为了满足更广领域IC的可靠性需求,深入研究器件的可靠性特性与传统的工艺可靠性保证条件同样重要。
- 邢宗锋梁剑波罗俊
- 关键词：模拟集成电路混合信号集成电路可靠性
