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章婷

作品数：3 被引量：2H指数：1
供职机构：武汉大学物理科学与技术学院更多>>
发文基金：国家自然科学基金更多>>
相关领域：一般工业技术理学金属学及工艺化学工程更多>>

合作作者

文献类型

  • 2篇会议论文
  • 1篇期刊文章

领域

  • 2篇一般工业技术
  • 1篇化学工程
  • 1篇金属学及工艺
  • 1篇理学

主题

  • 3篇正电子
  • 3篇正电子湮没
  • 1篇正电子寿命
  • 1篇正电子寿命谱
  • 1篇溶胶
  • 1篇溶胶-凝胶法...
  • 1篇凝胶法制备
  • 1篇微结构
  • 1篇空位
  • 1篇空位缺陷
  • 1篇合成温度
  • 1篇CACU3T...
  • 1篇CU2+
  • 1篇材料微结构

机构

  • 3篇武汉大学
  • 1篇南京信息工程...
  • 1篇中国工程物理...
  • 1篇郑州轻工业学...

作者

  • 3篇章婷
  • 1篇戴益群
  • 1篇张宏俊
  • 1篇雷海乐
  • 1篇张洪亮
  • 1篇陈志权
  • 1篇邱诚

传媒

  • 1篇武汉大学学报...

年份

  • 2篇2016
  • 1篇2010
共 3 条 记 录，以下是 1-3
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排序方式：
合成温度对溶胶-凝胶法制备CaCu3Ti4O12陶瓷微结构及电性能的影响
利用溶胶-凝胶法制备了CCTO前驱体,分别在800℃和900℃下对前驱体进行煅烧,然后将煅烧的粉体分别在1050℃,1070℃和1100℃下烧结得到CCTO系列陶瓷样品.XRD衍射图谱表明经800℃和900℃下煅烧后,粉...
李涛贺慧芳章婷赵宾陈志权陈镇平
关键词：正电子湮没
Zn4Sb3缺陷结构的正电子湮没研究
Zn4Sb3具有优良的热电性能.我们用正电子湮没寿命谱和多普勒展宽谱研究了Zn4Sb3在常温下的缺陷结构以及低温下相变过程中的缺陷结构变化.在常温下Zn4Sb3是β相，其Zn单空位的正电子寿命约为212 ps.通过与理论...
周凯章婷陈志权
关键词：空位缺陷正电子寿命谱
纳米Cu固体材料微结构的正电子湮没研究被引量：2
2010年
纳米材料的性能不仅与纳米晶粒本身的结构有关,而且与纳米晶体之间界面的微观结构有关.纳米粉在压实成纳米块过程中很难消除微孔洞,并且在压实过程中也会给晶粒引入结构缺陷.本文用正电子湮没谱学研究了纳米Cu固体材料微结构,发现在两种不同条件下压制成型的纳米Cu固体内部的晶粒界面均存在着单空位及空位团等缺陷.空位团的大小随着压制压力的增加而略有减小.通过退火实验发现纳米Cu固体的界面缺陷具有较好的热稳定性.即使在900℃高温下退火也只能使部分缺陷得到恢复,但是低压力下压制的样品中的缺陷恢复需要更高的温度.
章婷邱诚张宏俊戴益群陈志权张洪亮雷海乐
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