张宏俊
- 作品数：6 被引量：9H指数：2
- 供职机构：武汉大学更多>>
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- 相关领域：理学金属学及工艺一般工业技术更多>>
- 纳米Cu固体材料微结构的正电子湮没研究被引量：2
- 2010年
- 纳米材料的性能不仅与纳米晶粒本身的结构有关,而且与纳米晶体之间界面的微观结构有关.纳米粉在压实成纳米块过程中很难消除微孔洞,并且在压实过程中也会给晶粒引入结构缺陷.本文用正电子湮没谱学研究了纳米Cu固体材料微结构,发现在两种不同条件下压制成型的纳米Cu固体内部的晶粒界面均存在着单空位及空位团等缺陷.空位团的大小随着压制压力的增加而略有减小.通过退火实验发现纳米Cu固体的界面缺陷具有较好的热稳定性.即使在900℃高温下退火也只能使部分缺陷得到恢复,但是低压力下压制的样品中的缺陷恢复需要更高的温度.
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- Al2O3催化剂的孔洞结构及化学环境的正电子探测
- 将NiO、Fe2O3、CuO三种活性成分分别与γ-Al2O3载体按不同质量比混合,制成NiO/Al2O3、Fe2O3/Al2O3、CuO/Al2O3三种催化剂。利用正电子寿命和符合多普勒展宽测量
- 张宏俊陈志权王少阶
- 关键词：催化剂电子偶素
- MoO3/Al2O3催化剂中Mo分散的正电子研究被引量：6
- 2008年
- 用浸渍法制备了一系列不同Mo含量的MoO3/Al2O3催化剂.测量了这些样品的正电子湮没寿命谱(PALS)与符合多普勒展宽(CDB)谱,以研究其孔洞结构以及Mo分散.正电子寿命测量结果表明,Al2O3载体中存在两种不同尺寸的孔洞.掺入MoO3之后,Mo原子主要进入Al2O3的大孔中,使孔洞体积减小.符合多普勒展宽谱结果表明,当MoO3的质量含量仅为3%时,多普勒展宽谱即发生了显著的改变.这表明Mo已分散至Al2O3的孔洞中,使得正电子测量所得到的电子动量分布发生改变.在MoO3含量达到18%之后,Al2O3中大孔的体积减小到尺寸与小孔相当,此后正电子寿命和多普勒展宽谱不再随MoO3含量变化,表明Mo分散逐渐达到饱和.
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- 关键词：正电子湮没寿命谱
- 多孔催化剂内电子偶素的湮没机制研究
- 自1951年Deutsch发现电子偶素(Ps)以来,众多研究人员对Ps的形成和湮没提出了很多理论模型并利用Ps作出了大量工作。但是,Ps的形成和湮没是一个受到多种因素影响的复杂的物理过程,到目前为止我们还没完全理解Ps的...
- 张宏俊
- 关键词：电子偶素猝灭自旋转换
- 文献传递
- 氧化法制备ZnO薄膜中缺陷结构的慢正电子束表征
- 2007年
- 用脉冲激光沉积方法在Al2O3(0001)衬底上制备了Zn薄膜,并在空气中氧化得到了ZnO薄膜.利用Raman光谱测量了氧化法制备的薄膜,并与ZnO单晶材料进行比较,证实了ZnO薄膜的形成.采用慢正电子束技术对ZnO薄膜的微观结构进行了研究,发现在薄膜中存在大量的空位型缺陷.当氧化后的薄膜在高温下退火后,缺陷浓度逐渐降低,在达到900℃时,所制备的ZnO薄膜中缺陷基本得到消除.
- 陈志权王栋张宏俊戴益群
- 关键词：氧化锌氧化法慢正电子束
- NiO/Al2O3纳米复合物中正电子素的自旋转换
- 将高纯NiO和γ-AlO纳米粉末按不同比例混合后,手动研磨并压制成片。测量了这组样品的正电子寿命谱和符合多普勒展宽谱。正电子寿命谱解析结果显示,NiO/γ-AlO内存在四个寿命分量:两个长寿命分量τ,τ和两个短寿命分量τ...
- 张宏俊陈志权王少阶
- 文献传递
