李楠
- 作品数：2 被引量：1H指数：1
- 供职机构：复旦大学材料科学系更多>>
- 相关领域：电子电信更多>>
- 低成本高可靠性NOR型Flash耐久性测试系统的研究与设计
- 基于浮栅结构的NOR型Flash在进行长时间大量的读写操作后，会由于氧化层可靠性、读写干扰等问题，导致芯片出现耐久性缺陷。耐久性测试是Flash芯片测试中占用测试时间最长的测试过程，测试成本很高。本文在深入分析NOR型F...
- 孙鹏彭丽花李楠郑国祥曾(华)
- 关键词：读写操作芯片测试
- 文献传递
- MUX-buffer开关互连结构的FPGA芯片I/O互连设计被引量：1
- 2009年
- 硬件结构及电子设计的质量是决定FPGA性能的两个重要因素。针对这两个方面,提出了一种通用的FP-GA芯片I/O互连结构,利用"回线"的终端互补原理对各种互连线的悬空终端进行连接。根据所提出的I/O互连结构的特点,在较少编程点的前提下,减少传输管级联个数,对多路选择器和缓冲器进行优化,提出了一种节省芯片面积且速度较快的基于MUX-Buffer结构的布线开关。该结构已在FPGA芯片中实现,对I/O互连的仿真及测试结果表明,所提出的结构及电路实现具有很好的延时可预测性,与常规MUX结构相比,面积-延时乘积降低了10%左右。
- 张火文黄均鼐李楠郑国祥曾韡
- 关键词：回线布线开关
