刘启民
- 作品数:2 被引量:7H指数:2
- 供职机构:中国科学院电子学研究所更多>>
- 发文基金:国家重点基础研究发展计划更多>>
- 相关领域:电子电信更多>>
- 利用银锡共晶键合技术的MEMS压力传感器气密封装被引量:5
- 2013年
- 为了提高MEMS压力传感器的气密封装效果,利用银锡(Ag-Sn)焊片共晶键合的方法实现封装.首先介绍了工艺流程,然后利用X射线能谱(EDX)和剪切强度分析对共晶键合的温度和时间参数进行了优化,接着对9组静载荷下的剪切强度、Ag-Sn合金分布和键合层断面做了对比分析,最后做了X光检测、氦泄漏率对比测试及MEMS压力传感器实际效果测试.实验结果表明,在温度为230℃、加热时间为15 min、静载荷范围为0.003 9 MPa~0.007 8 MPa时,MEMS压电传感器的平均剪切强度达到14.22 MPa~18.28 MPa,X光检测无明显空洞,氦泄漏率不超过5×10-4Pa.cm3/s,测试曲线表明线性度较好.
- 陈继超赵湛杜利东刘启民肖丽
- 关键词:共晶键合气密封装
- 基于Ag-Sn焊片共晶键合的MEMS气密性封装被引量:2
- 2012年
- 研究了在MEMS气密性封装中基于Ag-Sn焊片的共晶键合技术。设计了共晶键合多层材料的结构和密封环图形,在221℃实现了良好的键合效果,充N2保护的键合环境下,平均剪切强度达到9.4 MPa.三个月前后气密性对比实验表明氦泄漏不超过5×10-4Pa.cm3/s,满足GJB548B—2005标准规定,验证了Ag-Sn共晶键合技术在MEMS气密封装中应用的可行性。
- 陈继超赵湛刘启民肖丽杜利东
- 关键词:共晶键合气密封装