您的位置: 专家智库 > >

文献类型

  • 1篇中文期刊文章

领域

  • 1篇电子电信

主题

  • 1篇电桥
  • 1篇电阻
  • 1篇镀铜
  • 1篇双臂电桥
  • 1篇抗氧化
  • 1篇厚度
  • 1篇

机构

  • 1篇天水华天科技...

作者

  • 1篇安飞
  • 1篇雷育恒
  • 1篇张胡军
  • 1篇刘殿龙
  • 1篇李习周
  • 1篇张进兵
  • 1篇温莉

传媒

  • 1篇电子与封装

年份

  • 1篇2013
1 条 记 录,以下是 1-1
排序方式:
镀铜厚度对裸铜框架抗氧化性能的影响被引量:2
2013年
采用双臂电桥法测量了不同氧化程度的裸铜框架的电阻,在此基础上分析了烘箱内氧浓度、烘烤温度和框架表面镀铜厚度对框架氧化程度的影响。研究发现,在氧浓度≤0.1%的氮气保护环境中,经过180℃烘烤60min后,裸铜框架的氧化程度大于无氮气保护下100℃烘烤60min后的氧化程度;镀铜层能有效提高裸铜框架在100-180℃范围内的抗氧化能力,镀铜层较厚(1.0岬)的裸铜框架的抗氧化能力优于镀铜层较薄(0.5岬)的裸铜框架的抗氧化能力。
张胡军张进兵安飞雷育恒温莉刘殿龙李习周
关键词:双臂电桥电阻
共1页<1>
聚类工具0