路潇
- 作品数：4 被引量：15H指数：3
- 供职机构：中国人民解放军军械工程学院更多>>
- 发文基金：国家高技术研究发展计划更多>>
- 相关领域：军事自动化与计算机技术理学更多>>
- 装备保障指挥组织结构与指挥信息传递效率研究被引量：2
- 2006年
- 通过分析装备保障指挥组织结构与指挥信息传递效率的关系,得出结论:1)装备保障指挥组织结构形式与指挥信息传递效率具有密切的联系;2)这种联系在于通过指挥信息传递效率进而影响组织指挥效率;3)从任务小组到直线职能制,通过改变组织结构进而提高信息传递效率、最终提高组织指挥效率的主要机制是减少组织内部协调的复杂性;4)装备保障指挥组织结构的发展趋势是在各级增设协调指挥部门,通过减少协调信息通道数来提高组织指挥效率。
- 何蕾宋一中路潇
- 关键词：指挥信息传递
- 熵理论在装备保障指挥组织结构优化中的应用被引量：6
- 2006年
- 把熵理论应用于装备保障指挥组织结构的优化设计，并以某军区装备部机关组织结构为例，从量化的角度比较改革前后组织结构的时效熵和质量熵，得出结论：改革后的军区装备部机关组织结构有序度优于改革前机关组织结构有序度。
- 何蕾宋一中路潇
- 关键词：熵理论指挥
- 微处理器静电电磁脉冲辐照效应试验研究被引量：3
- 2006年
- 为研究静电电磁脉冲(ESD EMP)对嵌入式微处理器(MPU)的影响,根据IEC61000-4-2标准,利用静电电磁脉冲电场测试系统对FPGA、CPLD、80C196单片机3种电路进行ESD EMP辐照效应试验,同时实测了耦合板周围电场强度,根据试验结果分析了故障原因。试验发现ESD EMP对MPU系统工作稳定性影响较大,使FPGA、CPLD、80C196单片机集成电路发生死机或重启故障的静电放电电压阈值分别为13、7和10kV;3种微处理器对ESD EMP的敏感度序列为:CPLD>80C196单片机>FPGA。ESD EMP对MPU电路危害表现在放电的近场区,容易造成电子器件的击穿,而在远场区,主要是对电子设备造成高频干扰。
- 臧扬路潇
- 关键词：静电放电电磁脉冲辐照效应微处理器敏感度
- FPGA静电电磁脉冲辐照效应试验研究被引量：4
- 2005年
- 根据国际电工委员会IEC61000-4-2标准,利用ESS-200AX型ESD模拟器,选用人体-金属模型,测试静电电磁脉冲(ESD EMP)对FPGA的影响,并针对试验结果对故障原因进行分析.试验结果表明:FPGA集成电路抗静电电磁脉冲能力较强,当在FPGA集成电路周围的静电放电电压达到13 kV时,静电电磁脉冲将破坏SRAM的查找表中的数据,致使FPGA功能性损坏,但重新加电可恢复正常.
- 臧扬刘文冰魏明路潇
- 关键词：静电电磁脉冲FPGA辐照效应
