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金禹

作品数：2 被引量：2H指数：1
供职机构：东北大学理学院更多>>
相关领域：金属学及工艺理学更多>>

合作作者

文献类型

  • 1篇期刊文章
  • 1篇会议论文

领域

  • 1篇金属学及工艺
  • 1篇理学

主题

  • 2篇射线
  • 2篇X射线
  • 1篇铋系
  • 1篇膜厚
  • 1篇结构参数
  • 1篇厚度
  • 1篇薄膜厚度
  • 1篇MBE
  • 1篇超导
  • 1篇超导薄膜

机构

  • 2篇东北大学

作者

  • 2篇金禹
  • 1篇张炳森
  • 1篇裴剑芬
  • 1篇贺彤
  • 1篇祁阳
  • 1篇孙伟

传媒

  • 1篇理化检验（物...
  • 1篇TFC’07...

年份

  • 1篇2009
  • 1篇2007
共 2 条 记 录，以下是 1-2
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排序方式：
X射线反射法测量铋系超导薄膜的结构参数被引量：2
2009年
以铋系超导薄膜材料为例,应用X射线反射法测量薄膜材料的厚度以及粗糙度等结构参数,对测量方法的原理、衍射仪的调试和步骤等进行了详细的说明。这一方法为薄膜材料结构参数的测量提供了新途径。
贺彤孙伟金禹祁阳裴剑芬
关键词：厚度
MBE制备薄膜厚度的X射线反射法测量
利用分子束外延技术(MBE)生长 Bi 系氧化物高温超导体已经被很多研究人员研究并发展。制备高质量 Bi 系超导薄膜,精确控制 Bi、Sr、Ca、Cu 的比例是很重要的。目前,确定物质成分比的方法很多,如原子吸收光谱(A...
张炳森金禹于晓明孙伟祁阳
文献传递
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