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董作典

作品数:17 被引量:4H指数:1
供职机构:西安空间无线电技术研究所更多>>
相关领域:电子电信化学工程航空宇航科学技术理学更多>>

文献类型

  • 11篇专利
  • 6篇期刊文章

领域

  • 6篇电子电信
  • 1篇化学工程
  • 1篇电气工程
  • 1篇航空宇航科学...
  • 1篇一般工业技术
  • 1篇理学

主题

  • 4篇制样
  • 3篇电路
  • 3篇剖面
  • 3篇微带
  • 2篇导体
  • 2篇电路损耗
  • 2篇镀镍
  • 2篇压控
  • 2篇压控振荡器
  • 2篇引线
  • 2篇引线键合
  • 2篇振荡器
  • 2篇振荡器电路
  • 2篇射频同轴
  • 2篇射频同轴连接...
  • 2篇损耗
  • 2篇铁氧体
  • 2篇铁氧体器件
  • 2篇同轴连接器
  • 2篇批量化

机构

  • 16篇西安空间无线...
  • 1篇南京电子器件...
  • 1篇中国空间技术...

作者

  • 17篇董作典
  • 8篇文平
  • 8篇宋燕
  • 6篇何婷
  • 6篇韩宝妮
  • 5篇李海岸
  • 4篇黄磊
  • 4篇唐旭
  • 2篇杨钊
  • 2篇张全
  • 1篇文平
  • 1篇杨钊

传媒

  • 5篇电子产品可靠...
  • 1篇电子元件与材...

年份

  • 2篇2024
  • 2篇2023
  • 1篇2022
  • 1篇2021
  • 2篇2020
  • 3篇2018
  • 1篇2017
  • 2篇2016
  • 1篇2015
  • 2篇2014
17 条 记 录,以下是 1-10
排序方式:
宇航用晶体谐振器失效模式及质量保证研究
2018年
介绍了输出起振于寄生频率、激励电平过大引起的输出频率跳变和晶片与导电胶粘接部位存在裂纹这3种宇航用晶体谐振器的主要失效模式,并对每一种失效模式的失效机理进行了分析。为了保证宇航用晶体谐振器的可靠性,针对每一种失效模式和机理,提出了有针对性的质量保证控制措施和应用建议。
韩宝妮文平李海岸董作典
关键词:晶体谐振器失效模式
一种磁性基材的物理切割方法
本发明公开了一种磁性基材的物理切割方法,对不同厚度的微波铁氧体基板进行切割,工艺切割参数的最优范围为:切割机主轴转速为25000~35000转/min;切割速度为1.0~5.0mm/min;切割深度为磁性基材厚度d+0....
王蓉董作典华熙李婧宋燕唐旭陈娜
一种抗干扰X波段压控振荡器
一种抗干扰X波段压控振荡器,利用构建的增加电路,从电路结构上的提高了X波段压控振荡器的抗干扰能力,进行压控振荡器电路改造,通过改造电路抑制了低频信号传导到变容二极管,使低频信号无法被调制到振荡器的工作频率上,不会被正反馈...
何婷华熙张敏史广芹王必辉董作典王蓉
文献传递
一种晶体谐振器冷压焊管壳耐盐雾处理方法
一种晶体谐振器冷压焊管壳耐盐雾处理方法,解决了现有SC切晶体谐振器冷压焊管壳耐盐雾能力差的问题。处理方法包括:使用有机溶剂稀释剂对晶体谐振器进行清洗;采用水浴法进行保护剂加热,直至溶液全部溶解为透明溶液为止;将清洗干净的...
宋燕董作典姚晓雷秦玉浩
宇航用微波芯片电容器电极镀层可靠性评价方法研究
2018年
微波芯片电容器作为一种新型的电容器,已被广泛应用于宇航,而国军标和行业标准中目前并无适用的评价方法。针对宇航用芯片电容器的应用方式和失效模式,设计了一套宇航用微波芯片电容器镀层可靠性的评价方法,用以评价其可靠性是否满足宇航应用需求。以国产芯片电容器为例对该评价方法进行验证。结果表明,该评价方法可有效评价和验证芯片电容器电极镀层的可靠性。
韩宝妮文平董作典唐旭宋燕
关键词:微波元件可靠性
宇航用进口低等级芯片制样评价结果判定研究
2018年
为了保证航天器的可靠性,需要对宇航MCM和SIP电路内部选用的低等级芯片的可靠性进行评价。由于受到芯片制样工艺、匹配电路和测试精度等因素的影响,芯片评价中芯片制样评价的结果判定较为复杂。根据宇航用低等级芯片评价的工程实践,梳理出芯片制样评价中电性能指标超差的常见原因,并结合典型的案例分析,归纳总结了芯片制样评价结果判定时应考虑的因素。
韩宝妮文平董作典华熙冯鹤宋燕
一种磁性基材的物理切割方法
本发明公开了一种磁性基材的物理切割方法,对不同厚度的微波铁氧体基板进行切割,工艺切割参数的最优范围为:切割机主轴转速为25000~35000转/min;切割速度为1.0~5.0mm/min;切割深度为磁性基材厚度d+0....
王蓉董作典华熙李婧宋燕唐旭陈娜
文献传递
电磁脉冲对MMIC电路中MIM电容的损伤分析被引量:1
2016年
电容失效是电子电路中常见的故障。通过对某QPSK调制器微波单片集成电路(MMIC)进行失效分析,确定了该产品出现的故障是由MIM电容引起的,进一步地通过故障原因排查和故障机理分析,得知该MIM电容故障是由电磁脉冲(EMP)引起的,最后通过设计试验使故障复现,验证了分析结果的正确性,从而为今后MMIC的老炼试验设计提供了指导。
董作典宋燕史广芹韩宝妮唐旭何婷
关键词:电磁脉冲微波单片集成电路
一种射频同轴连接器内导体的表面处理方法
本发明提供一种射频同轴连接器内导体的表面处理方法,包括内导体的整体化学除油处理;内导体整体蚀刻、表面抛光处理;内导体的表面活化处理;内导体的整体表面滚镀镍、滚镀硬金;将内导体的镀硬金的界面部位安装在模具上,并使得内导体需...
史广芹何婷华熙文平黄磊李海岸董作典
文献传递
LTCC工艺评价试验方法被引量:3
2015年
结构分析(CA)或破坏性物理分析(DPA)试验可以有效地评价低温共烧陶瓷(LTCC)元器件的制造工艺质量。分析试验需对LTCC器件做剖面制样,重点考察通孔剖面处的工艺质量。采用样品固定、试样磨抛和试样腐蚀3个阶段配合完成剖面制样的新试验方法,得到了比传统试验方法清晰的试样剖面,有效地暴露了试样工艺缺陷,可以作为评价LTCC工艺质量的有效试验方法进行推广应用。
董作典文平杨钊华熙
关键词:低温共烧陶瓷破坏性物理分析
共2页<12>
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