文平
- 作品数：9 被引量：0H指数：0
- 供职机构：西安空间无线电技术研究所更多>>
- 相关领域：理学一般工业技术电子电信航空宇航科学技术更多>>
- 微波多芯片组件失效模式及质量保证研究
- 2024年
- 微波多芯片组件是空间应用必不可少的核心技术装备,其可靠性是目前研究的重点和热点。介绍了微波多芯片组件过电应力损伤、自激振荡引起的组件功能异常、氢效应导致工作电流和增益下降,以及银迁移引起绝缘电阻下降这4种主要的失效模式,对每一种失效模式的机理进行分析并提出针对性质量保证措施,例如:进行电源容限和功率过激励试验分析微波组件实际最大额定工作条件防止过电应力损伤、进行不同工作条件下的稳定性测试提前识别是否存在自激振荡风险、对管壳进行除氢处理并选用耐氢能力高的芯片降低氢效应风险、在设计阶段合理地布线并对生产过程进行控制避免银迁移的发生,旨在提高微波组件的可靠性。
- 张敏李婧贺卿文平王必辉
- 关键词：微波多芯片组件失效模式可靠性
- 一种LTCC剖面制样的制备方法
- 一种LTCC剖面制样的制备方法，由样品固定阶段、试样磨抛阶段和试样腐蚀阶段配合完成产品剖面制样。样品固定阶段将待制样产品放入模具并浇注准备好的固化剂进行固化；试样磨抛阶段将已固化的试样进行切割并对剖面研磨抛光得到初步剖面...
- 董作典文平杨钊黄磊李海岸华熙史广芹
- 文献传递
- 宇航用微波芯片电容器电极镀层可靠性评价方法研究
- 2018年
- 微波芯片电容器作为一种新型的电容器,已被广泛应用于宇航,而国军标和行业标准中目前并无适用的评价方法。针对宇航用芯片电容器的应用方式和失效模式,设计了一套宇航用微波芯片电容器镀层可靠性的评价方法,用以评价其可靠性是否满足宇航应用需求。以国产芯片电容器为例对该评价方法进行验证。结果表明,该评价方法可有效评价和验证芯片电容器电极镀层的可靠性。
- 韩宝妮文平董作典唐旭宋燕
- 关键词：微波元件可靠性
- 宇航用进口低等级芯片制样评价结果判定研究
- 2018年
- 为了保证航天器的可靠性,需要对宇航MCM和SIP电路内部选用的低等级芯片的可靠性进行评价。由于受到芯片制样工艺、匹配电路和测试精度等因素的影响,芯片评价中芯片制样评价的结果判定较为复杂。根据宇航用低等级芯片评价的工程实践,梳理出芯片制样评价中电性能指标超差的常见原因,并结合典型的案例分析,归纳总结了芯片制样评价结果判定时应考虑的因素。
- 韩宝妮文平董作典华熙冯鹤宋燕
- 宇航用晶体谐振器失效模式及质量保证研究
- 2018年
- 介绍了输出起振于寄生频率、激励电平过大引起的输出频率跳变和晶片与导电胶粘接部位存在裂纹这3种宇航用晶体谐振器的主要失效模式,并对每一种失效模式的失效机理进行了分析。为了保证宇航用晶体谐振器的可靠性,针对每一种失效模式和机理,提出了有针对性的质量保证控制措施和应用建议。
- 韩宝妮文平李海岸董作典
- 关键词：晶体谐振器失效模式
- 一种射频同轴连接器内导体的表面处理方法
- 本发明提供一种射频同轴连接器内导体的表面处理方法，包括内导体的整体化学除油处理；内导体整体蚀刻、表面抛光处理；内导体的表面活化处理；内导体的整体表面滚镀镍、滚镀硬金；将内导体的镀硬金的界面部位安装在模具上，并使得内导体需...
- 史广芹何婷华熙文平黄磊李海岸董作典
- 文献传递
- 吸氢材料在微波密封电路壳体中的应用研究
- 2020年
- 为了控制微波密封电路壳体中的氢含量,降低氢致失效概率,提升电路的可靠性,研究了应用吸氢材料吸收电路封装内的氢的方式。通过分析选取了合适的吸氢材料和用量,并结合试验和对比确定了采用导电胶粘接的安装方式将其固定在电路外壳内侧。通过一系列的激发试验和模拟应用试验验证得出,适当地使用该吸氢材料可以可靠地吸收微波密封壳体中的大部分氢。该研究对于提高微波密封电路的可靠性具有一定的指导意义。
- 何婷敖冬飞史广芹文平华熙董作典
- 一种射频同轴连接器内导体的表面处理方法
- 本发明提供一种射频同轴连接器内导体的表面处理方法，包括内导体的整体化学除油处理；内导体整体蚀刻、表面抛光处理；内导体的表面活化处理；内导体的整体表面滚镀镍、滚镀硬金；将内导体的镀硬金的界面部位安装在模具上，并使得内导体需...
- 史广芹何婷华熙文平黄磊李海岸董作典
- 文献传递
- 一种LTCC剖面制样的制备方法
- 一种LTCC剖面制样的制备方法，由样品固定阶段、试样磨抛阶段和试样腐蚀阶段配合完成产品剖面制样。样品固定阶段将待制样产品放入模具并浇注准备好的固化剂进行固化；试样磨抛阶段将已固化的试样进行切割并对剖面研磨抛光得到初步剖面...
- 董作典文平杨钊黄磊李海岸华熙史广芹
- 文献传递
