冯丹丹
- 作品数：4 被引量：2H指数：1
- 供职机构：杭州电子科技大学电子信息学院更多>>
- 发文基金：国家自然科学基金国家教育部博士点基金浙江省科技计划项目更多>>
- 相关领域：理学电子电信更多>>
- 一种基于镍锌氧化物薄膜的低压压敏电阻器
- 本发明公开了一种基于镍锌氧化物薄膜的低压压敏电阻器，它主要由绝缘衬底、金属薄膜下电极、镍锌氧化物薄膜和金属薄膜上电极组成。其中，镍锌氧化物薄膜的分子式为Ni<Sub>x</Sub>Zn<Sub>1－x</Sub>O，x的...
- 季振国毛启楠冯丹丹
- 文献传递
- 利用HRXRD和UV-Vis反射光谱确定AlGaN/GaN/Al2O3的结构与成分被引量：1
- 2008年
- 结合紫外-可见光谱和高分辨XRD两种测试方法,无损、可靠地确定了AlGaN/GaN HEMT结构内各层的厚度、成分、应力等参数,解决了高分辨XRD无法同时确定成分与应力的难题。这两种方法的好处是样品不需经过特殊的处理,也不需进行切割、减薄等工艺,具有快速、无损、准确的特点,可以作为AlGaN/GaNHEMT器件的筛选工具,提高器件的成品率、降低生产成本。
- 季振国冯丹丹席俊华毛启楠袁苑郝芳陈敏梅
- 关键词：X射线衍射无损检测
- 一种基于镁锌氧化物薄膜的低压压敏电阻器
- 本发明公开了一种基于镁锌氧化物薄膜的低压压敏电阻器，它主要由绝缘衬底、金属薄膜下电极、镁锌氧化物薄膜和金属薄膜上电极组成。其中，所述镁锌氧化物薄膜为高度c轴取向的晶体薄膜，它的分子式为Mg<Sub>x</Sub>Zn<S...
- 季振国毛启楠冯丹丹
- 文献传递
- 利用Mg含量控制Zn_(1-x)Mg_xO薄膜压敏电阻器的阈值电压被引量：1
- 2010年
- 利用溶胶-凝胶法制备了Zn1-xMgxO压敏薄膜,并通过X射线衍射、X射线能谱、紫外-可见光谱仪、I-V特性测试仪等对薄膜及其压敏特性进行了表征。XRD结果表明,掺Mg后Zn1-xMgxO薄膜仍然为六方纤锌矿ZnO晶体结构;紫外-可见吸收谱表明,随着薄膜中Mg含量的增加,薄膜的吸收边蓝移,禁带宽度增加。I-V特性曲线表明,基于Al/Zn1-xMgxO/Si结构的薄膜压敏电阻器的阈值电压随着Mg含量的增加而增加,因此可以通过调节Mg含量实现对Zn1-xMgxO薄膜压敏电阻器阈值电压的调节。上述现象表明,Zn1-xMgxO薄膜压敏电阻器的压敏阈值电压与禁带宽度有关,即与Zn1-xMgxO薄膜中电子的本征跃迁有关。
- 季振国张春萍冯丹丹柯伟青毛启楠
- 关键词：阈值电压
