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黄姣英

作品数：4 被引量：0H指数：0
供职机构：中国航天科工集团公司更多>>

合作作者

文献类型

  • 4篇中文专利

主题

  • 4篇电路
  • 4篇元器件
  • 2篇分布统计
  • 1篇分布参数

机构

  • 4篇中国航天科工...

作者

  • 4篇张虹
  • 4篇梅亮
  • 4篇张碚
  • 4篇高成
  • 4篇黄姣英

年份

  • 2篇2018
  • 2篇2015
共 4 条 记 录，以下是 1-4
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排序方式：
一种基于加速退化轨迹的电路寿命预测方法
本发明公开了一种基于加速退化轨迹的电路寿命预测方法，包括：指定相同种类的多个待测元器件，对多个待测元器件进行加速退化实验，测试并记录多个待测元器件的性能退化参数；根据多个待测元器件的性能退化参数确定敏感参数，并对多个待测...
梅亮张虹张碚高成黄姣英
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一种基于加速退化轨迹的电路寿命预测方法
本发明公开了一种基于加速退化轨迹的电路寿命预测方法，包括对多个待测元器件进行加速退化实验，测试并记录多个待测元器件的性能退化参数；确定敏感参数，并对多个待测元器件的性能退化参数的样本序列进行平稳化处理；计算出每个待测元器...
张虹梅亮张碚高成黄姣英
文献传递
一种基于加速退化轨迹的电路寿命预测方法
本发明公开了一种基于加速退化轨迹的电路寿命预测方法，包括：指定相同种类的多个待测元器件，对多个待测元器件进行加速退化实验，测试并记录多个待测元器件的性能退化参数；根据多个待测元器件的性能退化参数确定敏感参数，并对多个待测...
梅亮张虹张碚高成黄姣英
文献传递
一种基于性能退化量分布参数的电路寿命预测方法
本发明公开了一种基于性能退化量分布参数的电路寿命预测方法，包括对多个待测元器件进行加速退化实验，测试并记录多个待测元器件的性能退化参数；确定敏感参数，并对多个待测元器件的性能退化参数的样本序列进行平稳化处理；计算出每个待...
张虹梅亮张碚高成黄姣英
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