张虹
- 作品数：16 被引量：13H指数：2
- 供职机构：中国航天科工集团公司更多>>
- 相关领域：电子电信自动化与计算机技术电气工程更多>>
- 一种基于加速退化轨迹的电路寿命预测方法
- 本发明公开了一种基于加速退化轨迹的电路寿命预测方法，包括：指定相同种类的多个待测元器件，对多个待测元器件进行加速退化实验，测试并记录多个待测元器件的性能退化参数；根据多个待测元器件的性能退化参数确定敏感参数，并对多个待测...
- 梅亮张虹张碚高成黄姣英
- 文献传递
- 芯片检测方法、装置、电子设备及存储介质
- 本公开提供一种芯片检测方法、装置、电子设备及存储介质。所述方法包括：将多个待测芯片设置在多种环境中，并对多个待测芯片多次输入测试向量集，采集每种环境下每次输入测试向量集过程中每个待测芯片对应的电磁辐射曲线；对每种环境下每...
- 石雪梅陈波赵毅强何家骥张虹林冰馨黄周晨
- 基于大容量FLASH存储器的FPGA重构系统的设计与实现被引量：8
- 2017年
- 随着FPGA在各种工业应用越来越广泛,FPGA重构技术在快速的FPGA自动测试中应用越来越广泛。传统的基于JTAG方式和基于配置芯片的FPGA重构方案由于存储配置时间长,配置芯片成本高等原因越来越满足不了快速的多重配置需求。提出了一种基于大容量FLASH存储器的FPGA重构技术,方案采用FPGA作为主控制器,大容量FLASH芯片用于存储目标FPGA的配置数据,可以实现绝大部分不同型号的FPGA器件的快速多重重构,从而满足FPGA芯片快速自动测试需求,提高了整体程序开发和测试效率,节约了芯片的测试成本。
- 杨士宁张虹李盛杰石雪梅张碚
- 关键词：FLASH存储器FPGA测试
- 一种MEMS加速度传感器件的开封方法
- 本发明公开了一种MEMS加速度传感器件的开封方法，包括：(1)将待二次开封的MEMS加速度传感器件加热使粘合剂失效，自然冷却；(2)将传感器件放在涂胶的第一金属片上，使其底部的凸台与涂胶的第一金属片粘合；(3)加热使胶完...
- 陈波张虹王坦刘路扬石雪梅顾颖吕兵邝栗山
- 文献传递
- 一种FPGA重构装置和方法
- 本发明公开了一种FPGA重构装置和方法，FPGA重构装置包括上位机，主控单元FPGA，被测FPGA，SD卡，上位机、被测FPGA和SD卡分别与主控单元FPGA相连；上位机通过主控单元FPGA将被测FPGA需要的配置文件写...
- 杨士宁张虹李盛杰张碚
- 文献传递
- 一种模数转换器非线性参数测试适配器及测试方法
- 本发明公开了一种模数转换器非线性参数测试适配器，包括：通用测试母板和专用测试子板；本发明还公开了一种模数转换器非线性参数测试方法包括以下步骤：建立斜坡发生函数；向被测模数转换器输入斜坡模拟电压；捕获被测模数转换器的数字输...
- 刘路杨张虹张碚吕兵
- 文献传递
- 大功率DC/DC电源模块满功率壳温控制方法被引量：5
- 2015年
- 论文基于大功率电源模块的工作原理及特点,介绍了其老炼原理及标准,提出了老炼过程中存在的几个问题。通过热特性测试和仿真、发热区域红外热成像分析结合老炼试验方案设计等手段,解决了VICOR公司生产的V24A24M300BL大功率电源模块的满功率老炼问题,提出了大功率系列电源的壳温控制方法,说明了热阻参数二次测试的必要性,最后给出了大功率电源模块的老炼流程及方法。
- 梅亮张虹张碚常成
- 关键词：电源模块大功率老炼热仿真
- 一种基于加速退化轨迹的电路寿命预测方法
- 本发明公开了一种基于加速退化轨迹的电路寿命预测方法，包括对多个待测元器件进行加速退化实验，测试并记录多个待测元器件的性能退化参数；确定敏感参数，并对多个待测元器件的性能退化参数的样本序列进行平稳化处理；计算出每个待测元器...
- 张虹梅亮张碚高成黄姣英
- 文献传递
- 有效消减测试成本的并行技术分析
- 2010年
- 文章通过定量分析指出,并行测试不仅降低了ATE系统的设备投资,而且能够消减测试环节中各项成本因素,因而比之低成本ATE,是更为显著、有效的测试成本消减方法。文章还指出,并行测试最佳站点数相对独立于ATE设备成本、运行成本、产品的合格率以及其它多种限制因素,若设备中可用的独立资源有限,就会降低测试的并行度,从而导致部分测试顺序执行,并行测试的成本优势将迅速消失。
- 王敏张虹闫鹏
- 关键词：并行测试
- 一种FPGA重构装置和方法
- 本发明公开了一种FPGA重构装置和方法，FPGA重构装置包括上位机，主控单元FPGA，被测FPGA，SD卡，上位机、被测FPGA和SD卡分别与主控单元FPGA相连；上位机通过主控单元FPGA将被测FPGA需要的配置文件写...
- 杨士宁张虹李盛杰张碚
