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汪悦

作品数:25 被引量:16H指数:2
供职机构:中国空间技术研究院更多>>
相关领域:电子电信自动化与计算机技术电气工程一般工业技术更多>>

文献类型

  • 16篇专利
  • 7篇期刊文章
  • 1篇会议论文
  • 1篇标准

领域

  • 6篇电子电信
  • 5篇自动化与计算...
  • 4篇电气工程
  • 1篇经济管理
  • 1篇金属学及工艺
  • 1篇航空宇航科学...
  • 1篇一般工业技术

主题

  • 8篇电路
  • 4篇自动化
  • 4篇芯片
  • 4篇FPGA芯片
  • 2篇单粒子
  • 2篇单粒子效应
  • 2篇电流
  • 2篇电路板
  • 2篇电容
  • 2篇电容器
  • 2篇电位器
  • 2篇电阻
  • 2篇端口
  • 2篇选择器
  • 2篇一致性
  • 2篇宇航
  • 2篇元件
  • 2篇元器件
  • 2篇真空罐
  • 2篇试验电路

机构

  • 25篇中国空间技术...
  • 1篇北京航空航天...

作者

  • 25篇汪悦
  • 19篇张大宇
  • 18篇王贺
  • 15篇张红旗
  • 15篇张松
  • 6篇宁永成
  • 6篇汪洋
  • 6篇庄仲
  • 5篇丛山
  • 3篇杨发明
  • 3篇王熙庆
  • 2篇傅丹膺
  • 2篇朱恒静
  • 2篇孙毅
  • 2篇于庆奎
  • 2篇贾晓
  • 2篇王征
  • 2篇陈志强
  • 2篇唐章东
  • 2篇李璇

传媒

  • 2篇质量与可靠性
  • 1篇绝缘材料
  • 1篇材料工程
  • 1篇计算机与数字...
  • 1篇航天器工程
  • 1篇电子元件与材...

年份

  • 2篇2024
  • 2篇2023
  • 2篇2022
  • 1篇2021
  • 6篇2020
  • 3篇2019
  • 4篇2018
  • 3篇2017
  • 1篇2016
  • 1篇2015
25 条 记 录,以下是 1-10
排序方式:
充氢Cr-Mo钢变形过程的声发射特征
2017年
对电化学充氢后的2.25Cr-1Mo钢进行拉伸实验,并在实时拉伸过程中采集声发射信号。结果表明:充氢后2.25Cr-1Mo钢抗拉强度为536.30MPa,下降约57MPa;断面收缩率为43.62%,下降约7%。拉伸断口上出现由氢脆引起的"白点"特征与准解理断裂形貌。充氢后试样拉伸过程弹性阶段的声发射信号活动增强,而屈服阶段的声发射信号活动减弱,变形过程的声发射信号累积绝对能量值要比未充氢试样低约1个数量级。充氢试样拉伸产生的声发射信号比未充氢试样的信号幅值降低约0.33mV,频宽降低0.06MHz。通过对声发射信号的分析发现,充氢试样变形的微观机制为氢促进位错发射与运动,而交叉滑移受到抑制。
滕全全汪悦有移亮张峥
关键词:声发射CR-MO钢位错运动
SpaceX公司商用塑封器件质量保证措施被引量:7
2019年
调研了商用塑封器件用于宇航任务时的一般质量保证要求,重点分析美国太空探索技术(SpaceX)公司基于实际工况的器件级、板级相结合的筛选、考核试验方法和选用策略。在此基础上提出国内航天任务用商用塑封器件质量保证方法改进建议,例如适当降低器件级试验要求并增加板级筛选和考核试验。最后,给出典型电装后单板筛选的低成本质量保证方案,在保证器件应用可靠性的同时能有效优化流程、降低成本。
张大宇宁永成王熙庆丛山汪悦
关键词:塑封器件
一种碳化硅器件单粒子效应的检测系统及方法
本发明提供了一种碳化硅器件单粒子效应的检测系统及方法。所述检测系统包括:BNC转接装置设置于真空罐之上,计算机分别与高阻表、直流源和第二DB9转接装置连接;高阻表的高压输出High端口与BNC转接装置连接;直流源的电压输...
王贺于庆奎曹爽刘艳秋汪悦张红旗张大宇梅博孙毅李晓亮吕贺
一种片式钽电容器混合漏电流检测方法
本发明涉及一种片式钽电容器混合漏电流检测方法,步骤包括:确定片式钽电容器的漏电流总体分布;对片式钽电容器的混合漏电流进行检测;确定片式钽电容器的混合漏电流检测参数总体分布;对片式钽电容器的混合漏电流检测参数总体分布进行修...
汪悦于一翔王征张红旗李剑焘贾晓王贺代添翼
文献传递
基于多目标遗传算法的加速退化试验优化设计
以参数退化为试验指标的加速退化试验在元器件可靠性领域有广泛的应用.通过进行试验优化设计,调整诸如应力组合,样品量分配以及测试频次等试验参数,可以在很大程度上提高加速退化试验寿命预计结果的稳定性和准确度.本文在对加速退化试...
李剑焘张大宇汪悦崔华楠王博闻
关键词:电子元器件加速退化试验优化设计多目标遗传算法
基于精密度和分布转换修正的参数一致性控制方法及装置
本发明提供了一种基于精密度和分布转换修正的参数一致性控制方法及装置,所述方法包括:抽样并采集器件参数的重复性测试数据和再现性测试数据;计算所述重复性测试数据和所述再现性测试数据对应参数的精密度;对处于预设范围内的精密度对...
李剑焘张红旗汪悦张松范壮壮常明超唐章东张大宇汪洋崔华楠王贺
一种嵌入式TDP RAM模块测试电路与测试方法
本发明涉及一种嵌入式TDP RAM模块测试电路,包括N个结构相同的测试单元、时钟信号、地址信号、第一数据输入信号、第二数据输入信号、数据输出信号、写使能信号、第一使能信号、第二使能信号、选择器控制信号与寄存器控制信号;每...
王贺张松汪悦张大宇汪洋崔华楠李剑焘庄仲吉美宁杨彦朝
文献传递
一种SRAM型FPGA的器件级自动化测试平台及其测试方法
本发明涉及一种FPGA器件级自动化测试平台和方法,特别是应用于Vertix-4系列SRAM型FPGA的器件级自动化测试平台及其方法。一种应用于FPGA的器件级自动化测试平台,其特征在于包括:服务器、编程器、测试仪主机以及...
王贺陈罗婧汪悦傅丹膺张大宇陈志强匡潜玮袁春柱张松
文献传递
基于精密度和分布转换修正的参数一致性控制方法及装置
本发明提供了一种基于精密度和分布转换修正的参数一致性控制方法及装置,所述方法包括:抽样并采集器件参数的重复性测试数据和再现性测试数据;计算所述重复性测试数据和所述再现性测试数据对应参数的精密度;对处于预设范围内的精密度对...
李剑焘张红旗汪悦张松范壮壮常明超唐章东张大宇汪洋崔华楠王贺
文献传递
一种嵌入式TDP RAM模块测试电路与测试方法
本发明涉及一种嵌入式TDP RAM模块测试电路,包括N个结构相同的测试单元、时钟信号、地址信号、第一数据输入信号、第二数据输入信号、数据输出信号、写使能信号、第一使能信号、第二使能信号、选择器控制信号与寄存器控制信号;每...
王贺张松汪悦张大宇汪洋崔华楠李剑焘庄仲吉美宁杨彦朝
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