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王贺

作品数：58 被引量：17H指数：2
供职机构：中国空间技术研究院更多>>
发文基金：国家自然科学基金更多>>
相关领域：自动化与计算机技术电子电信航空宇航科学技术电气工程更多>>

合作作者

文献类型

  • 50篇专利
  • 7篇期刊文章
  • 1篇标准

领域

  • 15篇自动化与计算...
  • 11篇电子电信
  • 2篇电气工程
  • 2篇航空宇航科学...
  • 1篇经济管理
  • 1篇核科学技术
  • 1篇文化科学
  • 1篇语言文字
  • 1篇理学

主题

  • 15篇电路
  • 10篇芯片
  • 8篇单粒子
  • 8篇单粒子效应
  • 8篇老炼
  • 7篇信号
  • 7篇封装
  • 6篇电源
  • 6篇FPGA芯片
  • 5篇程控电源
  • 4篇电路板
  • 4篇选择器
  • 4篇图像
  • 4篇重离子
  • 4篇专用测试设备
  • 4篇自动化
  • 4篇总线
  • 4篇检测电路
  • 4篇编程
  • 4篇编程器

机构

  • 58篇中国空间技术...
  • 2篇南京电子器件...
  • 1篇西安电子科技...

作者

  • 58篇王贺
  • 40篇张大宇
  • 40篇张松
  • 23篇宁永成
  • 20篇丛山
  • 19篇杨发明
  • 18篇张红旗
  • 18篇汪悦
  • 16篇匡潜玮
  • 15篇庄仲
  • 9篇孙毅
  • 9篇于庆奎
  • 9篇梅博
  • 8篇王征
  • 8篇姜琳
  • 7篇吕贺
  • 7篇蒋承志
  • 7篇张洪伟
  • 6篇张海明
  • 6篇汪洋

传媒

  • 2篇原子能科学技...
  • 1篇微电子学与计...
  • 1篇计算机与数字...
  • 1篇装备环境工程
  • 1篇航天器环境工...
  • 1篇现代应用物理

年份

  • 9篇2024
  • 7篇2023
  • 7篇2022
  • 3篇2021
  • 9篇2020
  • 6篇2019
  • 3篇2018
  • 7篇2017
  • 1篇2016
  • 5篇2015
  • 1篇2014
共 58 条 记 录，以下是 1-10
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排序方式：
一种元器件缺陷检测的方法及装置
本发明公开了一种元器件缺陷检测方法及装置，所述方法包括：获取目标元器件的X射线图像，并对所述X射线图像进行降噪处理，得到第一图像；消除所述第一图像的非均匀光照背景，得到第二图像；基于模板匹配定位所述第二图像中待检测的目标...
张海明唐章东李璇王征范晓明辛奇王雪生王贺刘敏范壮壮高华兴
文献传递
一种FPGA多工位动态老炼的配置电路与方法
本发明涉及一种FPGA多工位动态老炼的配置电路与方法，包括：存储器、继电器、驱动器、时钟、主FPGA和N个从FPGA。本发明的与现有大多数技术方案相比，不需要专用的外部配置处理器/计算机/编程器，因此没有额外的开发成本，...
王贺屈若媛万旺梁培哲张大宇张松焦美荣景福刚王锦李伟英
一种SiC MOSFET器件总剂量效应试验方法
本发明涉及一种SiC MOSFET器件总剂量效应试验方法，主要应用于SiC MOSFET总剂量效应试验。本发明可以解决SiC MOSFET的总剂量试验问题，实现了对SiC MOSFET复杂总剂量效应的验证，在试验过程中，...
于庆奎王贺曹爽孙毅梅博吕贺莫日根王乾元孙佳佳张洪伟
基于精密度和分布转换修正的参数一致性控制方法及装置
本发明提供了一种基于精密度和分布转换修正的参数一致性控制方法及装置，所述方法包括：抽样并采集器件参数的重复性测试数据和再现性测试数据；计算所述重复性测试数据和所述再现性测试数据对应参数的精密度；对处于预设范围内的精密度对...
李剑焘张红旗汪悦张松范壮壮常明超唐章东张大宇汪洋崔华楠王贺
文献传递
一种基于典型功耗分析的集成电路保留指令测试电路
本发明涉及一种基于典型功耗分析的集成电路保留指令测试电路，包括计算机、测试机、采样元件、调理电路、功耗采集单元和被测电路；测试机包括：数字通道A、直流源、数字通道B和GND/DGS；功耗采集单元包括2路采集通道：通道A和...
王贺屈若媛张红旗张大宇唐章东王征宁永成张松崔华楠李健焘吉美宁梁培哲
文献传递
一种可定制流程的MT29F系列NAND FLASH测试老炼系统
一种可定制流程的MT29F系列NAND FLASH测试老炼系统，包括上位机、程控电源、高温试验箱、USB转UART桥、下位机，下位机包括N个结构完全相同的母板、M个结构完全相同的信号板、K个结构完全相同的DUT板，下位机...
王贺张大宇宁永成张松蒋承志王熙庆杨彦朝杨发明
文献传递
发光器件测试转换夹具
本发明公开了一种发光器件测试转换夹具，包括由上至下的旋盖(1)、压紧板(2)、限位板(3)、电气连接板(4)和底座(5)；旋盖(1)与底座(5)螺纹配合；旋盖(1)上设计有上透光孔(6)以便于光强测试；压紧板(2)用于压...
张大宇朱峰丛山宁永成王贺匡潜玮姜琳张松杨彦朝杨发明
文献传递
一种检测芯片粘连区域缺陷的方法及装置
本发明公开了一种检测芯片粘连区域缺陷的方法及装置，所述方法包括：对采集到的X射线图像进行预处理，得到第一图像；利用训练好的目标检测模型，定位出所述第一图像中粘连区域的位置；基于无监督图像修复模型对所述第一图像中的粘连区域...
张海明李璇唐章东王征张帅王贺纪维高华兴范壮壮董浩威
文献传递
Pill封装光敏器件测试转换夹具
本发明的Pill封装光敏器件测试转换夹具，包括从上到下依次安置的压紧板(1)、限位板(2)、中间板(3)和电气连接板(4)，通过定位孔与定位螺钉、押紧平垫与托板螺母的配合设计，将压紧板(1)、限位板(2)、中间板(3)和...
朱峰张大宇丛山宁永成王贺匡潜玮姜琳张松杨彦朝杨发明
文献传递
一种高密度倒装焊器件可靠性评价方法
本发明公开一种高密度倒装焊器件可靠性评价方法，分析凸点制备工艺、芯片倒装焊工艺和底部填充工艺缺陷造成的可靠性问题，根据不同工艺缺陷造成的可靠性问题，建立对倒装焊器件进行可靠性评价的指标体系，所述指标体系包括凸点共面性、凸...
屈若媛万旺张延伟梁培哲王贺赵乐乐
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