钱卫江
- 作品数：11 被引量：46H指数：3
- 供职机构：上海市金属功能材料开发应用重点实验室更多>>
- 发文基金：国家自然科学基金更多>>
- 相关领域：金属学及工艺一般工业技术电气工程更多>>
- 热浸镀Ａｌ－２﹪Ｓｉ钢带界面化合物层的组成和结构
- 钱卫江顾文桂
- 关键词：浸涂
- Fe-Ni-B超细非晶粉表面不同处理后的组成和性能被引量：1
- 2003年
- 本文对Fe Ni B超细非晶粉表面加以单宁酸和重铬酸钾处理 ,并采用了XPS和TEM等对处理后超细粉的表面组成和结构进行了分析。结果表明 ,单宁酸和重铬酸钾处理均可以提高Fe Ni B超细非晶粉的饱和磁化强度 ,但后者的提高幅度远大于前者。原因在于二种表面处理均使超细粉的表面状态发生了有利于饱和磁化强度的变化 ,在表面形成了复合型氧化物NiFe2 O4 ;而重铬酸钾处理还在超细粉表面形成了致密的Cr2 O3 层 ,阻挡了氧原子从表面向体内的扩散 ,减少了超细粉的氧化态数量 ,而使其饱和磁化强度得以大大提高。
- 徐炜新钱卫江章靖国
- 关键词：表面处理XPSTEM
- Fe-Ni-B非晶纳米粒子不同处理后表面组成和结构的研究
- 2004年
- 对Fe-Ni-B非晶纳米粒子表面施加了单宁酸和重铬酸钾处理后,采用X射线光电子能谱和透射电子显微镜等技术对处理后粒子的表面组成和结构进行了分析。结果表明,单宁酸和重铬酸钾处理均可以提高Fe-Ni-B非晶纳米粒子的饱和磁化强度,且后者的提高幅度远大于前者。原因在于两种处理均使粒子的表面状态发生了有利于增强饱和磁化强度的变化,在表面形成了复合型氧化物NiFe_2O_4;而重铬酸钾处理还在粒子表面形成了致密的Cr_2O_3层,阻挡了氧原子从表面向体内的扩散,减少了粒子的氧化态数量,从而使其饱和磁化强度得以大大提高。
- 徐炜新钱卫江章靖国
- 关键词：表面处理X射线光电子能谱
- 样品表面覆氧对二次离子发射影响的实验研究
- 1990年
- 本文给出了样品表面充氧对二次离子发射影响的一些新的实验结果。表面氧压变化时,二次离子信号的变化有一暂态过程;二次离子信号饱和时的氧压随元素电负性的增加而增加,当一次离子为0.25mA/Cm^2、充氧压强为7×10^(-6)Torr时,所有元素的二次离子信号均达饱和;电负性大于等于3的元素不发生二次离子产额的氧增强效应。这些现象的研究及SIMS定性和定量分析有着重要意义。
- 范垂祯钱卫江蒋能
- 关键词：离子发射产额充氧暂态过程SIMS离子强度
- 热浸镀Al－2％Si钢带界面化合物层的组成和结构被引量：3
- 1994年
- 本文利用俄歇电子谱（ＡＥＳ）及透射电镜（ＴＥＭ）对比分析了国产、日本、和西德热浸镀Ａｌ－２％Ｓｉ钢带界面化合物层的厚度、结构和组成。结果表明，Ｓｉ以Ｆｅ＿２（ＡｌＳｉ）＿５的形式存在于Ｆｅ＿２Ａｌ＿５结构的界面化合物中。与热浸镀Ａｌ相比，添加Ｓｉ后导致界面化合物层厚度下降的原因在于Ｓｉ填充了Ｆｅ＿２Ａｌ＿５结构中原子空位、阻碍了Ａｌ原子的扩散。
- 钱卫江顾文桂
- 关键词：热浸镀界面化合物AESTEM
- Si对热浸镀Al界面化合物层生长的限制作用被引量：40
- 1994年
- 对添加２ａｔ．－％Ｓｉ后热浸镀Ａｌ钢带界面化合物层的结构和组成进行了实验研究。结果发现，Ｓｉ在界面化合物层区产生富集，界面化合物具有Ｆｅ_２Ａｌ_５相的结构，其化学式可写成Ｆｅ_２（ＡｌＳｉ）_５．认为Ｓｉ的作用在于填充Ｆｅ_２Ａｌ_５相中的原子空位，阻碍Ａｌ的扩散，使界面化合物层厚度大大下降．
- 钱卫江顾文桂
- 关键词：带钢热浸镀铝界面化合物
- 热浸镀铝钢带镀层与合金层的组织结构被引量：3
- 1995年
- 以露点为≤－６０°的氨分解气体作为保护气氛，钢带经７００～９００℃加热，６７０～７００℃连续热浸镀铝硅合金的ＴＥＭ及金相研究结果表明，镀层组织含有Ａｌ，ＦｅＡｌ＿３，α－（ＡｌＦｅＳｉ）＿Ｈ相。该组织为Ａｌ作基体，ＦｅＡｌ＿３以共晶方式存在，也常作为包晶反应产物α－（ＡＬＦｅＳｉ）＿Ｈ的核心。合金层主要是单相Ｆｅ＿２（ＡｌＳｉ）＿５，性脆易裂。
- 顾文桂钱卫江
- 关键词：热浸镀铝合金层钢带镀层
- 基体离子碎片比指示灵敏度因子法在分析铁基材料中的应用
- 1989年
- 讨论了基体离子碎片比指示灵敏度因子(MISR)的经验定量分析方法在分析铁基材料中的应用。利用37、SST 作为标准样品,测出了元素 Fe、Cr、Ni、Ti、C、Si、Mn的灵敏度因子校正曲线,并由实验证实了这些校正曲线对铁基材料具有一定的普遍意义;证明MISR 法可以在一定程度上补偿一般灵敏度因子法所不能补偿的相对离子产额的波动。
- 范垂祯钱卫江
- 关键词：离子铁基材料
- 覆氧条件下SIMS定量分析的半理论计算
- 1992年
- 以金属表面覆氧时二次离子发射的实验为基础,对二次离子质谱定量分析进行了研究。注意到金属元素的正离子产额随氧压升高而增加,而电负性高的元素离子信号有上升更多的趋势,完善了“结合LTE-断键”思想。并认为断键方式形成正、负二次离子的数目不仅与表面生成了多少氧化物有关,而且与氧化物的结合强度有关。如果定量估算表面氧化物数目及氧化物键强两个因素对离子产额的影响,将它们都与元素的电负性建立一定的关系,从而推导出表面覆氧时定量考虑断键形成二次离子的离子产额理论关系式,其中包含了覆氧量及元素电负性的因素。所介绍的定量分析方法适用于较宽的实验条件,可获得较好的结果。
- 范垂祯蒋能钱卫江
- 关键词：金属质谱分析SIMS
- TiN薄膜的俄歇研究
- 余镇江杨得全钱卫江
- 关键词：俄歇效应氮化钛力学性质氧
