李东
- 作品数：54 被引量：11H指数：2
- 供职机构：中国工程物理研究院激光聚变研究中心更多>>
- 发文基金：国家自然科学基金中国航空科学基金国家重点实验室开放基金更多>>
- 相关领域：机械工程理学自动化与计算机技术化学工程更多>>
- 透射双波长合成孔径全息术的光学元件表面疵病检测装置
- 本实用新型公开了一种透射双波长合成孔径全息术的光学元件表面疵病检测装置，属于光学检测技术领域中的光学元件表面疵病的检测装置，其目的在于提供一种可测量表面疵病深度跃变范围达λ波长量级的透射双波长合成孔径全息术的光学元件表面...
- 姜宏振郑芳兰刘勇刘旭李东杨一陈竹任寰张霖周信达郑垠波原泉石振东巴荣声李文洪于德强袁静丁磊马可马玉荣冯晓璇陈波杨晓瑜
- 文献传递
- 一种光束取样光栅的取样参数测量装置及方法
- 本发明公开了一种光束取样光栅的取样参数测量装置及方法，属于光束取样光栅的取样参数的测量，其目的在于提供一种既具备通用性和经济性，又能实现取样效率、取样角度和取样距离的取样参数测量装置及方法，其激光器输出的激光经一级扩束镜...
- 陈竹李东刘勇刘旭姜宏振
- 一种非线性光子学材料的非线性光谱特性测量装置
- 本实用新型涉及非线性光子学材料和非线性光学测量领域，尤其涉及一种非线性光子学材料的非线性光谱特性测量装置。本实用新型的目的在于提供一种测量非线性光子学材料光学非线性光谱特性的装置，得到宽波长范围内材料的光学非线性吸收光谱...
- 张霖原泉姜宏振任寰陈波杨一马骅石振东马玉荣冯晓璇杨晓瑜马可李东刘勇巴荣声周信达郑垠波
- 文献传递
- 用于光束取样光栅取样参数测量的调节夹持装置
- 本实用新型公开了一种用于光束取样光栅取样参数测量的调节夹持装置，属于专用夹具技术领域中的光学元件调节夹持装置，其目的在于提供一种用于光束取样光栅取样参数测量的光学元件精密调节夹持装置，同时实现对光学元件的位置调节精度达到...
- 刘勇李东杨一刘旭姜宏振郑芳兰陈波
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- 基于最小二乘迭代的随机移相面形检测技术研究被引量：3
- 2015年
- 在移相干涉中,由于系统或者环境的原因会产生移相误差,进而导致面形检测产生误差。介绍了最小二乘迭代随机移相算法的基本原理,通过模拟仿真,高精度地迭代出原始面形。针对随机移相可能引起迭代得到的面形与真实面形相反的现象,理论上分析了其产生的原因。提出在最小二乘迭代随机移相算法中,需要已知移相方向才能准确迭代出真实面形,通过实验进一步证实结论的正确性。给出了干涉仪移相方向标定的可行方法。
- 李东姜宏振刘勇刘旭
- 关键词：面形检测干涉法
- 基于重建像强度方差的数字全息图在焦重建距离判断方法
- 本发明公开了一种基于重建像强度方差的数字全息图在焦重建距离判断方法，属于光学精密测量技术领域中的数字全息图重建距离的自动化数值判断方法，其目的在于提供一种基于重建像强度方差的数字全息图在焦重建距离判断方法。本发明利用重建...
- 姜宏振刘勇李东刘旭郑芳兰周信达杨一陈竹张霖石振东原泉马骅马玉荣冯晓璇马可任寰李文洪于德强巴荣声郑垠波袁静丁磊陈波杨晓瑜
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- 光学元件表面浅划痕长度的定量检测研究
- <正>在利用显微散射暗场成像技术对光学元件表面疵病进行定量检测的过程中,由于浅划痕的成像亮度与背景光强非常接近,因此若对疵病图像直接进行二值化处理,将无法有效提取其中的划痕特征,从而造成划痕长度的误判或漏检,影响定量检测...
- 郑芳兰姜宏振于德强李东刘旭刘勇
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- 基于最小二乘拟合迭代自动提取十字图形中心的方法
- 本发明公开了一种基于最小二乘拟合迭代自动提取十字图形中心的方法，属于数字图像技术领域，解决现有技术中晶体锥光干涉图中的暗十字交叉区域较大，难以精确提取出十字图形中心位置的问题。本发明步骤如下：获取数字图像；将数字图像进行...
- 刘勇姜宏振李东刘旭郑芳兰张霖巴荣声杨一陈波杨晓瑜柴立群
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- 一种光学元件表面损伤阈值测试系统
- 本实用新型公开了一种光学元件表面损伤阈值测试系统，涉及光学检测领域，包括按光路依次放置的激光器、液晶光阀、光束分束器、透镜一、测试样品、吸收陷阱、直视CCD、反光镜、能量卡计、透镜二和监视CCD，由激光器发出的激光束，经...
- 周信达丁磊郑垠波巴荣声袁静姜宏振徐宏磊张霖李东杨一杨晓瑜陈波柴立群郑万国
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- 透镜的透射率测试系统及方法
- 本发明涉及光学领域，具体提供了一种透镜的透射率测试系统，所述系统包括测试光发生装置、光阑、光阑控制装置、积分球、光谱测试装置以及光谱分析装置，所述测试光发生装置用于提供测试光，所述光阑设置于所述测试光发生装置与所述积分球...
- 马骅任寰张霖杨一石振东原泉马玉荣陈波杨晓瑜柴立群马可刘旭姜宏振刘勇李东
- 文献传递
