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姜宏振

作品数：92 被引量：95H指数：6
供职机构：中国工程物理研究院激光聚变研究中心更多>>
发文基金：中国航空科学基金国家自然科学基金国家科技重大专项更多>>
相关领域：机械工程理学电子电信自动化与计算机技术更多>>

合作作者

文献类型

  • 73篇专利
  • 12篇期刊文章
  • 7篇会议论文

领域

  • 18篇机械工程
  • 15篇理学
  • 3篇电子电信
  • 2篇自动化与计算...
  • 1篇一般工业技术
  • 1篇文化科学

主题

  • 30篇全息
  • 22篇数字全息
  • 22篇光学
  • 15篇全息术
  • 13篇光学元件
  • 12篇数字全息图
  • 12篇全息图
  • 12篇激光
  • 12篇光栅
  • 11篇衍射
  • 10篇入射
  • 10篇数字全息术
  • 10篇图像
  • 10篇物镜
  • 10篇显微物镜
  • 10篇表面疵病
  • 9篇衍射效率
  • 8篇透镜
  • 8篇疵病
  • 7篇晶体

机构

  • 67篇中国工程物理...
  • 25篇西北工业大学
  • 1篇南京理工大学
  • 1篇浙江大学
  • 1篇中国空间技术...

作者

  • 92篇姜宏振
  • 52篇陈波
  • 52篇刘勇
  • 51篇刘旭
  • 51篇李东
  • 46篇杨一
  • 44篇张霖
  • 43篇杨晓瑜
  • 41篇任寰
  • 38篇巴荣声
  • 34篇石振东
  • 31篇郑芳兰
  • 30篇柴立群
  • 29篇郑垠波
  • 29篇周信达
  • 27篇马骅
  • 25篇原泉
  • 24篇马可
  • 24篇赵建林
  • 22篇马玉荣

传媒

  • 4篇光学学报
  • 2篇光学精密工程
  • 2篇强激光与粒子...
  • 1篇光学技术
  • 1篇激光与光电子...
  • 1篇中国激光
  • 1篇应用物理
  • 1篇2014年大...
  • 1篇2012年西...
  • 1篇第十六届全国...

年份

  • 2篇2024
  • 1篇2023
  • 4篇2021
  • 2篇2020
  • 3篇2019
  • 5篇2018
  • 5篇2017
  • 21篇2016
  • 16篇2015
  • 9篇2014
  • 1篇2013
  • 10篇2012
  • 2篇2010
  • 6篇2009
  • 5篇2008
共 92 条 记 录，以下是 1-10
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排序方式：
光学元件表面浅划痕长度的定量检测研究
<正>在利用显微散射暗场成像技术对光学元件表面疵病进行定量检测的过程中,由于浅划痕的成像亮度与背景光强非常接近,因此若对疵病图像直接进行二值化处理,将无法有效提取其中的划痕特征,从而造成划痕长度的误判或漏检,影响定量检测...
郑芳兰姜宏振于德强李东刘旭刘勇
文献传递
一种反射型体全息光栅参数获取的方法
本发明涉及一种反射型体全息光栅参数获取的方法，利用不同读出波长的布拉格匹配条件之间的关系，通过布拉格匹配条件下，入射角度与光栅倾斜角之间的关系公式以及布拉格角与光栅周期的计算公式，得到光栅周期和光栅倾斜角。利用选定的某一...
赵建林张颜艳邸江磊姜宏振吴冰静陈鑫王骏
基于最小二乘拟合迭代自动提取十字图形中心的方法
本发明公开了一种基于最小二乘拟合迭代自动提取十字图形中心的方法，属于数字图像技术领域，解决现有技术中晶体锥光干涉图中的暗十字交叉区域较大，难以精确提取出十字图形中心位置的问题。本发明步骤如下：获取数字图像；将数字图像进行...
刘勇姜宏振李东刘旭郑芳兰张霖巴荣声杨一陈波杨晓瑜柴立群
文献传递
一种非线性光子学材料的非线性光谱特性测量装置
本实用新型涉及非线性光子学材料和非线性光学测量领域，尤其涉及一种非线性光子学材料的非线性光谱特性测量装置。本实用新型的目的在于提供一种测量非线性光子学材料光学非线性光谱特性的装置，得到宽波长范围内材料的光学非线性吸收光谱...
张霖原泉姜宏振任寰陈波杨一马骅石振东马玉荣冯晓璇杨晓瑜马可李东刘勇巴荣声周信达郑垠波
文献传递
一种非傍轴和离焦像差的数值校正方法
本发明公开了一种非傍轴和离焦像差的数值校正方法，首先确定为全息图的记录距离d；对无透镜傅里叶变换数字全息图进行非傍轴像差校正和离焦像差校正；对校正后的全息图进行逆快速傅里叶变换，得到全息图的数值再现像；判断其数值聚焦平面...
赵建林邸江磊姜宏振闫晓博孙伟伟杨德兴
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一种基于光场衍射迭代的球面元件面形重构系统及方法
本发明公开了一种基于光场衍射迭代的球面元件面形重构系统及方法，涉及光学检测技术领域中的球面元件面形的检测，其目的在于解决现有技术中存在的球面元件面形重构时需要参考平面的面形测量方法，致使测量成本高、测量效率低的技术问题。...
刘旭刘勇任寰陈竹姜宏振李东石振东柴立群朱启华郑万国
透射型双波长全息术的光学元件高景深表面疵病检测装置
本实用新型公开了一种透射型双波长全息术的光学元件高景深表面疵病检测装置，属于光学检测技术领域中的光学元件表面疵病的检测装置，其目的在于提供一种可测量表面疵病深度跃变范围达λ波长量级的透射型双波长全息术的光学元件高景深表面...
姜宏振郑芳兰刘勇刘旭李东杨一陈竹任寰张霖周信达郑垠波原泉石振东巴荣声李文洪于德强袁静丁磊马可马玉荣冯晓璇陈波杨晓瑜
文献传递
透射型合成孔径数字全息术的光学元件表面疵病检测装置
本实用新型公开了一种透射型合成孔径数字全息术的光学元件表面疵病检测装置，属于光学检测技术领域中的光学元件表面疵病的检测装置，其目的在于提供一种可测量表面疵病深度跃变范围达λ波长量级的透射型合成孔径数字全息术的光学元件表面...
姜宏振郑芳兰刘勇刘旭李东杨一陈竹任寰张霖周信达郑垠波原泉石振东巴荣声李文洪于德强袁静丁磊马可马玉荣冯晓璇陈波杨晓瑜
文献传递
非线性薄膜材料的光学非线性测量装置
本实用新型公开了一种非线性薄膜材料的光学非线性测量装置，属于非线性光子学材料和非线性光学测量技术领域中的非线性光子学材料的光学非线性测量装置，其目的在于提供一种非线性薄膜材料的光学非线性测量装置。其包括激光器、泵浦光路、...
张霖任寰姜宏振杨一陈波马骅石振东原泉李东刘勇刘旭马玉荣杨晓瑜柴立群
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非线性厚光子学材料的光学非线性测量装置
本实用新型公开了一种非线性厚光子学材料的光学非线性测量装置，属于非线性光子学材料和非线性光学测量技术领域中非线性光子学材料的光学非线性测量装置。本申请采用Tophat型激光脉冲作为探测光，根据待测样品厚度选择适当厚度的参...
张霖杨一姜宏振任寰马骅原泉石振东李东陈波杨晓瑜柴立群马玉荣马可
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