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陈晓华

作品数：4 被引量：0H指数：0
供职机构：西北核核技术研究所更多>>
相关领域：航空宇航科学技术电子电信核科学技术更多>>

合作作者

文献类型

  • 4篇国内会议论文

领域

  • 2篇电子电信
  • 2篇航空宇航科学...
  • 1篇核科学技术

主题

  • 4篇单粒子
  • 2篇单粒子烧毁
  • 2篇单粒子效应
  • 2篇等效
  • 2篇等效电路
  • 2篇电路
  • 2篇电路模拟
  • 2篇功率MOS器...
  • 2篇半导体
  • 2篇半导体器件
  • 2篇CPU
  • 2篇测试系统
  • 2篇场效应
  • 2篇场效应器件

机构

  • 4篇西北核核技术...

作者

  • 4篇陈晓华
  • 2篇唐本奇
  • 2篇贺朝会
  • 2篇姬琳
  • 2篇王燕平
  • 2篇耿斌
  • 2篇王燕萍
  • 2篇杨海亮

传媒

  • 2篇第十届全国计...
  • 2篇第10届全国...

年份

  • 4篇1999
共 4 条 记 录，以下是 1-4
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排序方式：
功率MOS器件单粒子烧毁效应的等效电路模拟方法
建立了ＶＤＭＯＳ器件单粒子烧毁效应的等效电路模型和参数提取方法，对器件的输出特性和单粒子烧毁效应机理进行了分析和模拟，模拟结果与文献中的数据相符合，表明所建立的器件模型和模拟方法是可靠的。
唐本奇王燕萍耿斌陈晓华杨海亮
关键词：功率MOS器件单粒子烧毁电路模拟半导体器件场效应器件
文献传递网络资源链接
80C86单粒子效应测试系统实验
子效应是影响卫星正常工作主要因素之一，它是由于空间带电离子入射到超大规模集成电路（如ＳＲＡＭ、ＣＰＵ、ＦＰＧＡ等）中所引起的。由于ＣＰＵ单粒子效应测试系统复杂，故国内在这一方面的报道不多。该文较详细介绍作者所研制的８０Ｃ...
陈晓华贺朝会姬琳王燕平
关键词：单粒子效应CPU测试系统
功率MOS器件单粒子烧毁效应的等效电路模拟方法
了ＶＤＭＯＳ器件单粒子烧毁效应的等效电路模型和参数提取方法，对器件的输出特性和单粒子烧毁效应机理进行了分析和模拟，模拟结果与文献中的数据相符合，表明所建立的器件模型和模拟方法是可靠的。
唐本奇王燕萍耿斌陈晓华杨海亮
关键词：功率MOS器件单粒子烧毁电路模拟半导体器件场效应器件
80C86单粒子效应测试系统实验
单粒子效应是影响卫星正常工作主要因素之一，它是由于空间带电离子入射到超大规模集成电路（如ＳＲＡＭ、ＣＰＵ、ＦＰＧＡ等）中所引起的。由于ＣＰＵ单粒子效应测试系统复杂，故国内在这一方面的报道不多。该文较详细介绍作者所研制的８...
陈晓华贺朝会姬琳王燕平
关键词：单粒子效应CPU测试系统
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