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肖治纲
作品数:
12
被引量:8
H指数:2
供职机构:
北京科技大学
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电子电信
化学工程
金属学及工艺
理学
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合作作者
杜国维
北京科技大学材料科学与工程学院...
张灶利
北京科技大学材料科学与工程学院...
纪箴
北京科技大学材料科学与工程学院...
王燕斌
北京科技大学
马肇曾
北京科技大学
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北京科技大学
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肖治纲
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杜国维
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张灶利
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1995
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1994
1篇
1993
1篇
1989
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Co薄膜中CoSi化合物相转变过程观察
1995年
Si衬底上生长的Co薄膜,经250,450,500℃退火后.用电子显微镜对Co/Si界面处CoSi化合物的相转变进行了观察结果发现CoSi为多晶颗粒.
张灶利
肖治纲
杜国维
关键词:
集成电路
电子显微镜
Si衬底上Co薄膜氧化观察
1994年
用透射电子显微镜和X射线衍射方法研究Si衬底上的Co薄膜氧化.发现:在550℃以下,薄膜氧化产物是CoO;在900℃再次进行真空热处理,CoO能转变为硅化物.薄膜氧化,对Co/Si界面硅化物转变有影响.
张灶利
肖治纲
杜国维
一种低温共烧堇青石系玻璃-陶瓷基板粉料及其制备方法
本发明公开了一种低温共烧MgO-Al<Sub>2</Sub>O<Sub>3</Sub>-SiO<Sub>2</Sub>系玻璃-陶瓷基板粉料及其制备方法,是在堇青石2MgO·2Al<Sub>2</Sub>O<Sub>3</...
纪箴
张昭瑞
王燕斌
肖治纲
文献传递
Co-Si界面低温(≤450℃)相变的电子显微术研究
被引量:2
1995年
本文用透射电镜的衍射方法,研究Co薄膜和衬底之间的界面的低温相变.用小角解理方法制备的室温原始样品经分析发现:室温下薄膜没有相变.在250℃,Co2Si为最先形成的硅化物;250℃30分钟处理后,产生大量的CoSi相.450℃1小时处理形成单相的CoSi.从本实验结果与前人研究结果对比发现:观察手段、样品制备方法、镀膜方法等因素会影响低温相变结果.
张灶利
肖治纲
杜国维
关键词:
硅化物薄膜
相变
电子显微术
一种纳米级多层陶瓷电容器介电材料的制备方法
一种纳米级多层陶瓷电容器介电材料的制备方法,属于电子陶瓷材料的制备,特别涉及一种铅系陶瓷粉料的制备。本方法是针对铌镁酸铅-钛酸铅粉料颗粒过大,烧结温度过高,电极成本过高和铅的挥发等问题采用湿化学中的共沉淀方法,在较低的温...
纪箴
肖治纲
刘秀清
王燕斌
余宗森
马肇曾
文献传递
一种纳米级多层陶瓷电容器介电材料的制备方法
一种纳米级多层陶瓷电容器介电材料的制备方法,属于电子陶瓷材料的制备,特别涉及一种铅系陶瓷粉料的制备。本方法是针对铌镁酸铅-钛酸铅粉料颗粒过大,烧结温度过高,电极成本过高和铅的挥发等问题采用湿化学中的共沉淀方法,在较低的温...
纪箴
肖治纲
刘秀清
王燕斌
余宗森
马肇曾
文献传递
Co薄膜的稳定性和室温相观察
被引量:1
1999年
用电镜对 Si (001) 基体上的 Co 薄膜的室温相和稳定性进行了观察, 高分辨像和小角解理的电子衍射结果均表明: 室温下, Co 薄膜不发生反应, 室温相为α Co, 没有硅化物形成. Co 薄膜在经过300 ℃2h 退火后, 薄膜发生部分凝聚现象, 凝聚团由硅化物组成. 300 ℃退火后薄膜由 Co2 Si 和 Co Si
张灶利
郭红霞
肖治纲
余宗森
王桂兰
关键词:
稳定性
稀土铁铬铝合金的高温氧化TEM研究
被引量:1
1993年
通过透射电镜对Fe-25%Cr-6%Al-RE(富镧)合金氧化行为进行研究.结果表明:经1200℃恒温2h纯氧中氧化,合金中镧以六方La_2O_3微小颗粒沉淀在氧化膜中α—Al_2O_3晶粒的顶端及晶界上。它们阻碍铝向表面扩散,抑制氧化膜的侧向生长;在1200℃/室温之间热循环氧化历程.稀土组元加快了合金的内氧化。它们以氧化铝、氧化镧形式出现,在靠近氧化膜/金属界面,立方La_2O_3颗粒平行于晶界并在合金基体上沉积。
杜国维
袁之良
肖治纲
关键词:
高温氧化
氧化镧
铁铬铝合金
TEM
共沉淀法合成铌镁酸铅──钛酸铅介电陶瓷粉末
被引量:3
1995年
通过共沉淀法合成铌镁酸铅-钛酸铅介电陶瓷粉末,经800℃焙烧后,X射线衍射研究表明几乎为单一钙钛矿相;经1000℃烧结的陶瓷片其密度达到理论值的96.77%,20℃介电常数可达20940。
陈伟
杜国维
马肇曾
肖治纲
裘宝琴
关键词:
共沉淀
铌镁酸铅
钛酸铅
陶瓷
Co/Si和Co/SiO_2界面反应的观察
被引量:1
1996年
本文用X射线衍射(XRD)和高分辨电镜研究Co薄膜在氩气气氛或真空条件下热处理时Co/Si和Co/SiO2体系的界面反应.结果表明:在氩气氛下450℃处理时,Co薄膜均发生氧化,在Co/Si界面同时有硅化物形成,而在Co/SiO2界面,无硅化物产生.在真空条件下500℃处理1小时,薄膜没有氧化,在Co/Si界面形成完整的CoSi2外延层.
张灶利
翟启华
纪箴
肖治纲
杜国维
关键词:
硅化物薄膜
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