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张灶利
作品数:
14
被引量:19
H指数:2
供职机构:
北京科技大学材料科学与工程学院材料物理与化学系
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相关领域:
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合作作者
余宗森
钢铁研究总院
肖治纲
北京科技大学材料科学与工程学院...
林清英
钢铁研究总院
杜国维
北京科技大学材料科学与工程学院...
纪箴
北京科技大学材料科学与工程学院...
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1995
1篇
1994
1篇
1993
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中子辐照 GaAs 缺陷的退火行为研究
1999年
采用霍尔测量、沟道卢瑟福背散射( 沟道 R B S) 以及低温光荧光方法对中子辐照 Ga As 缺陷的快速退火行为进行了研究。嬗变杂质锗未能全部激活的原因之一是部分锗原子占据砷位形成受主。在快速退火过程中可形成反位缺陷 Ga As( Ev + 200 me V) 以及复合缺陷 I Ga - V As 。
刘键
王佩璇
张灶利
关键词:
中子辐照
砷化镓
退火
Co薄膜中CoSi化合物相转变过程观察
1995年
Si衬底上生长的Co薄膜,经250,450,500℃退火后.用电子显微镜对Co/Si界面处CoSi化合物的相转变进行了观察结果发现CoSi为多晶颗粒.
张灶利
肖治纲
杜国维
关键词:
集成电路
电子显微镜
超低碳钢等温过程中杂质的晶界偏聚研究
被引量:1
1999年
用俄歇电子能谱(AES)和扫描电镜(SEM)研究了超低碳钢在900℃等温时P、S、C、B等杂质元素在晶界的偏聚问题。结果发现,等温初期P、B在晶界的含量出现峰值,保温一定时间后,晶界S含量也出现峰值,碳的晶界含量随等温时间递增。长时间等温。
张灶利
吴旭飚
刘登科
林清英
余宗森
关键词:
超低碳钢
等温处理
俄歇电子能谱
Co-Si化合物薄膜的电子显微学研究
张灶利
关键词:
化合物
电子显微学
Si衬底上Co薄膜氧化观察
1994年
用透射电子显微镜和X射线衍射方法研究Si衬底上的Co薄膜氧化.发现:在550℃以下,薄膜氧化产物是CoO;在900℃再次进行真空热处理,CoO能转变为硅化物.薄膜氧化,对Co/Si界面硅化物转变有影响.
张灶利
肖治纲
杜国维
磷在钢回火脆性发展时的非平衡偏聚及钼的影响
被引量:8
1999年
用俄歇能谱仪和扫描电镜研究了中碳钢和含钼中碳钢在回火脆性发展过程中P在晶界上的偏聚。发现在480 ℃回火时,两种钢均在晶界出现P的浓度峰值。含钼中碳钢中的Mo 减小了晶界断裂比例,但并不改变P的浓度峰值。同时还观察了S、C、Mo 等组元在晶界的偏聚。P在晶界的浓度峰值可以用磷-空位复合体的非平衡偏聚机制加以解释。
张灶利
刘键
林清英
余宗森
刘登科
关键词:
中碳钢
回火脆性
磷
非平衡偏聚
钼
多组元溶质晶界偏聚动力学
张灶利
关键词:
非平衡偏聚
Al-Cu合金G.P.区异常快速形成的复合体机制
被引量:1
1996年
用置换溶质原子-空位复合体机制,对Al-Cu合金G.P.区异常快速形成及相应的现象进行了解释,并与过剩空位机制和位错机制进行了比较。
张灶利
张崇芳
陈宁
余宗森
关键词:
铝铜合金
Co-Si界面低温(≤450℃)相变的电子显微术研究
被引量:2
1995年
本文用透射电镜的衍射方法,研究Co薄膜和衬底之间的界面的低温相变.用小角解理方法制备的室温原始样品经分析发现:室温下薄膜没有相变.在250℃,Co2Si为最先形成的硅化物;250℃30分钟处理后,产生大量的CoSi相.450℃1小时处理形成单相的CoSi.从本实验结果与前人研究结果对比发现:观察手段、样品制备方法、镀膜方法等因素会影响低温相变结果.
张灶利
肖治纲
杜国维
关键词:
硅化物薄膜
相变
电子显微术
连续冷却过程中低碳贝氏体钢的晶界化学
被引量:1
1998年
用俄歇电子能谱仪分析了低碳贝氏体钢奥氏体化后炉冷、空冷、油冷和水冷时C、B、P、S等元素在晶界的偏聚行为。结果发现:在不同冷却速度下,各元素在晶界的偏聚量不同。慢冷速下,B、P晶界浓度较高,快冷速下S晶界浓度较高。C在晶界的浓度随冷速的提高增加至一定值后趋于平衡。晶界上元素C、B、P、S之间,存在化学相互作用及位置竞争现象。用扫描电镜观察了断口形貌。
张灶利
林清英
余宗森
关键词:
低碳贝氏体钢
晶界偏聚
俄歇电子能谱
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