王全明
- 作品数：23 被引量：13H指数：2
- 供职机构：中国核工业集团公司核工业西南物理研究院更多>>
- 发文基金：国家自然科学基金更多>>
- 相关领域：核科学技术理学一般工业技术石油与天然气工程更多>>
- HL-lM装置杂质粒子输运与约束特性被引量：1
- 2001年
- 在HL lM装置上利用激光吹气技术 ,在等离子体边缘瞬态注入少量Al杂质粒子 ,通过对真空紫外光谱和软X射线区的杂质辐射测量 ,分别研究了欧姆等离子体和低杂波电流驱动等离子体两种情况下 ,Al杂质粒子输运与约束特性。结果表明 :在欧姆等离子体和低杂波电流驱动等离子体两种情况下 ,等离子体中心区 ,在没有MHD锯齿震荡和有MHD锯齿震荡非锯齿破裂期间 ,杂质粒子输运基本上受新经典规律支配 ;在有MHD锯齿震荡锯齿破裂期间 ,杂质粒子输运受MHD不稳定性支配 ,但其时间很短 (通常小于 30 0 μs) ,所以在这种情况下 ,杂质粒子输运的平均效应比新经典值稍大。而约束区杂质粒子输运则比新经典的值大很多 ,是反常的。在一定条件下低混杂波电流驱动可以改善等离子体粒子约束。
- 王全明李可华冯兴亚王恩耀
- 关键词：HL-1M装置等离子体托卡马克装置粒子输运
- HL—1M中氘放电过程中氢和氘的粒子密度之比被引量：1
- 2003年
- 在HL-IM氘放电过程中,利用多通道光谱分析仪Ⅳ(OMA 4)系统测量了H_α(氢)和D_α(氘)的谱线强度之比,进而得到氢和氘的粒子密度之比。测量结果表明:在HL-1M托卡马克氘放电开始阶段,氢氘比随时间迅速增大;在电流平顶阶段,从总体上看,氢氘比随时间缓慢增大;多次放电以后,氢氘比没有明显减小或减小得非常缓慢。
- 孙平王全明潘传红董贾福唐益武崔正英王小燕杨进蔚
- 关键词：粒子密度
- 利用分支比方法作真空紫外光谱仪的强度校准被引量：4
- 1990年
- 托卡马克等离子体中存在C、N、O、Fe、Mo、Ni等杂质,这些杂质的存在对等离子体的特性有着重要的影响。在高温等离子体中,尤其是在中心区,杂质辐射主要在真空紫外光谱区。所以,对托卡马克等离子体的真空紫外光谱研究是十分重要的。它常用于测定杂质的种类、含量,也能测量等离子体参数如电子温度、离子温度等。这就需要对光谱强度进行定量的测量。为此必须对整个测量系统、包括谱仪及探测器等进行绝对标定。目前可见光区光谱的绝对校准已经解决,使用的黑体辐射源和次级标准源如钨带灯和碳弧等都是比较好的标准源。但是,在真空紫外光谱区尤其是在小于100nm的波段里,在国内还缺少比较好的方便的标准源。虽然迄今已建成电子同步辐射加速器。
- 骆翠贤李可华王全明
- 关键词：真空紫外光谱仪校准
- HL-2M装置集成安装进度控制研究
- 2021年
- 大型托卡马克装置集成安装工程子项多、接口繁多、工作空间狭小、系统复杂、参与人员众多,如何做好装置集成安装的进度控制至关重要。基于工程进度风险管理思维,详细分析了HL-2M装置集成安装进度控制风险因素,并探索了进度控制体系有效运行方式,为安装进度风险可控且实现进度控制目标提供了保障,也为我国大型磁约束核聚变装置集成安装标准化和规模化发展积累了经验。
- 李连才蔡立君毛维成杨青巍李强王全明冯勇进李永革林晨张龙HL-2M研制团队
- 关键词：进度计划进度控制
- HL－1M托卡马克硼化实验的杂质辐射特性被引量：1
- 1996年
- 文中叙述了ＨＬ－１Ｍ托卡马克硼化真空紫外光谱区杂质辐射的观测结果。分析得出：硼化有效地控制等离子体中的杂质，其中，氧杂质减少约６５％，碳杂质减少约６０％，金属杂质减少约８５％。
- 李可华王全明骆翠贤王恩耀
- 关键词：硼化托卡马克
- 一种进化型人机交互式核聚变知识科普学习平台及方法
- 本发明属于科普学习平台技术领域，具体涉及一种进化型人机交互式核聚变知识科普学习平台及方法。本平台中，支架单元并与底座连接，为主控制器单元提供支撑，主控制器单元能够实现平台的学习功能；本发明方法包括如下步骤：步骤1、选择学...
- 吴帆李继全王占辉王全明
- 一种降低高温下大型真空室本底漏率装置
- 本发明属于真空应用技术领域，具体涉及一种降低高温下大型真空室本底漏率装置。本发明中，干泵、反应炉、液氮换热器安装在箱体的内部，干泵固定安装在箱体内的底部，干泵、反应炉、液氮换热器通过管道并联连接；进气口一端伸出箱体，另一...
- 谌继明冷桢王平怀段旭如王全明许敏康伟山周毅李佳霖范小平陈艳宇韦郑兴
- 文献传递
- HL－1M装置杂质VUV辐射及Te观测
- 1996年
- 本文介绍了ＨＬ－１Ｍ装置等离子体杂质真空紫外辐射观测的初步结果。用类Ｌｉ离子谱线强度比法估计出Ｔｅ≈４００ｅＶ。镀膜后的ＣＥＭ探测器的灵敏度提高。
- 李可华王全明骆翠贤袁文麟李永革
- 关键词：等离子体托卡马克装置HL-1M
- 壁涂覆后和LHCD期间HL-1M装置辐射损失测量
- 1998年
- 本文叙述了第一壁涂覆（硼化、硅化和锂化）和低杂波电流驱动（ＬＨＣＤ）对ＨＬ－１Ｍ装置等离子体辐射损失的影响。测量结果表明，第一壁经硼化、硅化和锂化处理后，等离子体辐射损失明显减少，说明壁处理技术对减少等离子体中杂质辐射有显著作用。本文还初步分析了注入低杂波（ＬＨＷ）期间等离子体辐射损失功率下降或上升的原因，为研究等离子体性能提供了实验数据。
- 施明亮潘宇东董贾福王恩耀王瑞荣陈燎原王全明
- 关键词：硼化硅化LHCD托卡马克
- HL-1M装置几种杂质谱线的特性被引量：1
- 1998年
- 介绍了ＨＬ－１Ｍ装置真空紫外光谱区的杂质辐射观测结果。对器壁硅化后的杂质特性进行了分析，用激光吹气技术研究了杂质输运，分析了低混杂波电流驱动、弹丸注入实验中杂质谱线的变化。
- 王全明李可华李永革骆翠贤王恩耀
- 关键词：硅化托卡马克LHCD弹丸注入
