杨海岸
- 作品数：13 被引量：46H指数：3
- 供职机构：昆明冶金研究院更多>>
- 相关领域：理学金属学及工艺建筑科学更多>>
- GD-MS法测定太阳能级多晶硅中痕量杂质元素含量被引量：3
- 2015年
- 采用辉光放电质谱法(GD-MS)测定太阳能级多晶硅中B、Na、Mg、Al、K、Ca、Ti等20个痕量杂质元素。研究了GD-MS测定多晶硅的预溅射时间,优化和选择了仪器的工作参数、分辨率和用于分析的待测元素同位素。并将分析结果与电感耦合等离子体质谱法(ICP-MS)的分析结果进行对照以验证GD-MS无标分析的准确程度。实验结果表明,GD-MS法对B、Na、Mg、Al、K、Ca、Ti等元素测定结果的相对标准偏差(RSD)都小于25%,二者测定结果基本一致。
- 杨赟金杨海岸
- 关键词：辉光放电质谱法精密度
- 高纯海绵铂
- 本标准规定了高纯海绵铂的技术要求、试验方法、检验规则和标志、包装、运输、贮存、质量证明书及订货单（或合同）内容。本标准适用于高纯海绵铂产品。
- 吴喜龙刘伟杨海岸李光俐马媛朱武勋刘文郁丰善向磊杨红玉林波金云杰王金营
- 辉光放电质谱法测定高纯锡中15种痕量杂质元素被引量：1
- 2018年
- 运用辉光放电质谱法(GD-MS)检测高纯锡中Ag、Al、Ca、Cu、Fe等15种痕量杂质元素的含量。通过实验获得了仪器工作最佳设置;总结出合适的样品预处理流程;分析了可能引入的干扰元素以及消除其干扰的方法;讨论了检测过程中可能存在的干扰待测元素的同位素质谱线,以此得出最佳待测元素分析同位素质谱线以及合适的分辨率模式;使用Element-GD型辉光放电质谱仪对高纯锡产品样品进行了检测,统计了检测精密度,并将检测结果与电感耦合等离子体质谱法(ICP-MS)的分析结果进行了比对,其准确性可靠。
- 刘英波杨海岸杨海岸闫豫昕罗舜刘维理闫豫昕杨伟李超
- 关键词：辉光放电质谱法
- 火试金重量法直接测定铅精矿及其它含铅物料中的银被引量：12
- 2015年
- 系统研究了火试金重量法直接测定铅精矿、铅矿石、铅合金和含铅物料中银含量的条件,将测定结果与国家标准、行业标准方法的测定结果进行比较,并采用铅精矿国家标准物质进行验证.结果表明：测定5～71 200 g/t的银含量,相对标准偏差（RSD）和银标准加标回收率分别为0.10％～7.4％和99.10％～99.94％.分析结果与国家标准、行业标准方法测定结果吻合,验证结果与铅精矿国家标准物质认定值一致.
- 安中庆赵德平朱利亚刘维理刘英波李蓉周娅闫豫昕施昱罗伟赋杨海岸
- 关键词：铅精矿铅合金银
- 光谱分析用铑基体
- 本标准规定了光谱分析用铑基体的技术要求、试验方法、检验规则和标志、包装、运输、贮存、质量证明书及订货单（或合同）内容。本标准适用于光谱分析纯度为99.9%～99.99%的铑时所用铑基体。
- 赵雨刘伟杨海岸马媛王淑英刘文程婧娴郁丰善杨红玉林波金云杰王金营鲁俊余
- 辉光放电质谱法测定高纯钴中痕量杂质元素被引量：3
- 2015年
- 采用辉光放电质谱法(GD-MS)测定高纯钴中Na、K、Fe、Ni、Cu等14个痕量杂质元素。找出了合适的样品预处理方法,讨论了最佳仪器工作参数和样品预溅射时间的选择,探讨了如何选择合适的分析同位素及分辨率模式来减小同位素干扰的影响。分析了GD-MS测定痕量杂质元素的精密度,并将分析结果与高纯钴样品出厂标定值进行比对以验证GD-MS无标直接分析的准确程度。结果表明,辉光放电质谱法是直接分析高纯钴材料的有效分析方法。
- 杨海岸罗舜刘英波闫豫昕施昱
- 关键词：辉光放电质谱法痕量元素
- 光谱分析用钯基体
- 本标准规定了光谱分析用钯基体的技术要求、试验方法、检验规则和标志、包装、运输、贮存、质量证明书及订货单（或合同）内容。本标准适用于光谱分析纯度为99.9%～99.99%的钯时所用钯基体。
- 刘文刘伟杨海岸马媛王淑英吴喜龙朱武勋郁丰善邱平赵雨林波金云杰王金营
- X射线荧光光谱法测定氧化锌粉中锌铁硫铜铅被引量：2
- 2013年
- 以粉末压片方法自制样品,采用荷兰帕纳科Axios-PW4400型波长色散X射线荧光光谱仪一次测定氧化锌粉中的锌、铁、硫、铜、铅5种元素含量。试验测定结果与常规化学分析方法测定结果一致。分析结果准确、快速,成本低,适合湿法炼锌工艺系统中连续生产需要。
- 杨海岸高文键李春林
- 关键词：X射线荧光光谱法粉末压片法
- X射线荧光光谱法测定工业硅中十二种杂质元素被引量：3
- 2016年
- 建立了X射线荧光光谱粉末压片法,可同时对工业硅样品中铁、铝、钙、锰、镍、钛、铜、磷、镁、铬、钒、钴十二种元素进行定量测定。工业硅样品中加入淀粉作黏结剂,以硼酸作垫衬剂压制成样片后,在选定的仪器分析条件下进行测定,该方法检测速度快,精度高,结果准确。
- 刘英波杨毅杨海岸杨谅孚罗舜
- 关键词：X射线荧光光谱法精密度
- X射线荧光光谱法测定工业硅样品中Fe的不确定度评定被引量：2
- 2013年
- 分析了运用X射线荧光光谱法测定工业硅中Fe含量时,可能对分析结果产生不确定度的各种原因。依次对分析重复性、标准物质、分析曲线回归、天平称量等方面引起的不确定度分量作出了评定,最后计算了合成标准不确定度以及扩展不确定度,并给出使用该方法检测工业硅中Fe含量所得分析结果的不确定度评定报告。从评定结果得出结论,拟合分析曲线的过程所引入的不确定度对整体影响是最大的。
- 顾松杨海岸刘英波罗舜
- 关键词：X射线荧光光谱法工业硅不确定度
