罗舜
- 作品数：10 被引量：46H指数：4
- 供职机构：昆明冶金研究院更多>>
- 相关领域：理学机械工程更多>>
- 辉光放电质谱法测定高纯锌中痕量杂质元素被引量：11
- 2017年
- 采用辉光放电质谱法(GD-MS)测定高纯锌中Mg、Al、Fe、Co、Ni等12个痕量杂质元素。得出了最佳仪器工作参数,讨论了合理的样品预处理方法以及可能引入的干扰元素,通过选择合适的样品预溅射时间消除其干扰;讨论了检测中存在的同位素质谱线干扰,并以此选择出适合的待测元素分析同位素质谱线和分辨率模式,使干扰的影响降低到最小;用Element-GD型高分辨辉光放电质谱仪分析了高纯锌产品样品,讨论了检测精密度,并将检测结果与其出厂标定值进行了比对,结果表明,辉光放电质谱法是一种检测高纯锌材料的简单、准确的方法。
- 杨海岸罗舜刘英波李超闫豫昕张文娟顾松阮舒呈
- 关键词：辉光放电质谱法
- 辉光放电质谱法测定高纯钴中痕量杂质元素被引量：3
- 2015年
- 采用辉光放电质谱法(GD-MS)测定高纯钴中Na、K、Fe、Ni、Cu等14个痕量杂质元素。找出了合适的样品预处理方法,讨论了最佳仪器工作参数和样品预溅射时间的选择,探讨了如何选择合适的分析同位素及分辨率模式来减小同位素干扰的影响。分析了GD-MS测定痕量杂质元素的精密度,并将分析结果与高纯钴样品出厂标定值进行比对以验证GD-MS无标直接分析的准确程度。结果表明,辉光放电质谱法是直接分析高纯钴材料的有效分析方法。
- 杨海岸罗舜刘英波闫豫昕施昱
- 关键词：辉光放电质谱法痕量元素
- 光电直读光谱法测定锡青铜中9种杂质元素被引量：6
- 2014年
- 利用光电直读光谱仪快速测定了锡青铜中的9种杂质元素，通过调整工作曲线及其它影响测定的因素，最终确定了锡青铜的最佳分析条件，方法的相对标准偏差RSD为0．33％-4．4％，对标准样品的实际测定结果与标准值基本一致，精密度与准确度均能满足日常分析需求。
- 程婧娴罗舜
- 关键词：光电直读光谱仪
- 光电直读光谱法测定锡铅焊料中九种元素被引量：5
- 2016年
- 建立了测定锡铅焊料中锡、铅、锑、铋、银、铜、锌、镉、砷含量的光电直读光谱分析方法。通过调整工作曲线并进行必要的干扰校正,确定了各项分析条件,结果表明:该方法的准确度、精密度符合分析要求。
- 周娅罗舜
- 关键词：光电直读光谱仪锡铅焊料
- 铜离子印迹聚合物的制备、性能与应用研究被引量：4
- 2014年
- 以Cu2+为印迹离子,Cu2+、AM和EGDMA的摩尔比为1∶4∶30,合成了一种具有高选择性和分离富集能力的金属离子印迹聚合物(IIP2)。其在40μg/mL的Cu2+水溶液中对Cu2+的吸附量为12.80 mg/g,印迹因子为1.94。以优化工艺下合成的印迹聚合物(IIP2)制备了印迹固相萃取柱,优化了固相萃取条件,并在此条件下对两个污水样品进行分析,Cu2+的萃取率分别达到93.5%和90.7%。该印迹聚合物有作为Cu(II)分离富集材料的应用前景。
- 杨赟金罗舜曹秋娥
- 关键词：固相萃取
- 辉光放电质谱法测定高纯锡中15种痕量杂质元素被引量：1
- 2018年
- 运用辉光放电质谱法(GD-MS)检测高纯锡中Ag、Al、Ca、Cu、Fe等15种痕量杂质元素的含量。通过实验获得了仪器工作最佳设置;总结出合适的样品预处理流程;分析了可能引入的干扰元素以及消除其干扰的方法;讨论了检测过程中可能存在的干扰待测元素的同位素质谱线,以此得出最佳待测元素分析同位素质谱线以及合适的分辨率模式;使用Element-GD型辉光放电质谱仪对高纯锡产品样品进行了检测,统计了检测精密度,并将检测结果与电感耦合等离子体质谱法(ICP-MS)的分析结果进行了比对,其准确性可靠。
- 刘英波杨海岸杨海岸闫豫昕罗舜刘维理闫豫昕杨伟李超
- 关键词：辉光放电质谱法
- X射线荧光光谱法测定工业硅中十二种杂质元素被引量：3
- 2016年
- 建立了X射线荧光光谱粉末压片法,可同时对工业硅样品中铁、铝、钙、锰、镍、钛、铜、磷、镁、铬、钒、钴十二种元素进行定量测定。工业硅样品中加入淀粉作黏结剂,以硼酸作垫衬剂压制成样片后,在选定的仪器分析条件下进行测定,该方法检测速度快,精度高,结果准确。
- 刘英波杨毅杨海岸杨谅孚罗舜
- 关键词：X射线荧光光谱法精密度
- X射线荧光光谱法测定工业硅样品中Fe的不确定度评定被引量：2
- 2013年
- 分析了运用X射线荧光光谱法测定工业硅中Fe含量时,可能对分析结果产生不确定度的各种原因。依次对分析重复性、标准物质、分析曲线回归、天平称量等方面引起的不确定度分量作出了评定,最后计算了合成标准不确定度以及扩展不确定度,并给出使用该方法检测工业硅中Fe含量所得分析结果的不确定度评定报告。从评定结果得出结论,拟合分析曲线的过程所引入的不确定度对整体影响是最大的。
- 顾松杨海岸刘英波罗舜
- 关键词：X射线荧光光谱法工业硅不确定度
- 辉光放电质谱法测定高纯镍中16种痕量杂质元素被引量：16
- 2015年
- 采用辉光放电质谱法(GD-MS),不用标准样品绘制校准曲线,直接测定高纯镍中硅、磷、硫、锰、铁、钴、锌、砷、镉、锑、锡、铅、铋、镁、铝和铜共16个痕量杂质元素。确定了分析高纯镍的最佳仪器参数并总结了参数的调节方法。当预溅射时间设定在20min时,可以完全消除样品在预处理过程中引入的钠、钙和铁的污染。在中分辨率分析模式下,选择丰度最高的24 Mg、27 Al、28Si、31P、114Cd、32S、209 Bi、75 As、55 Mn、56 Fe、59 Co、63 Cu、121Sb、208 Pb作分析同位素可以减小同位素质谱峰干扰,但锌和锡例外。虽然64 Zn和120 Sn丰度最高,但其质谱峰分别与36Ar14 N16 O和82Se36 Ar的质谱峰重叠,因此实验选择质谱峰能分开、丰度较低的66Zn和118Sn作为分析同位素。采用实验方法对3个高纯镍样品进行分析,测定值与参考值以及电感耦合等离子体质谱法(ICP-MS)的测定值符合性较好。其精密度随着元素含量的增大而越来越好,当元素含量在μg/g水平时,其相对标准偏差(RSD)小于10%。
- 杨海岸罗舜闫豫昕刘英波
- 关键词：辉光放电质谱法痕量元素
- 利用类型校正程序提高光电直读发射光谱仪分析数据的准确度被引量：3
- 2013年
- 实验利用光电直读发射光谱仪生产厂商提供的分析软件——类型校正程序,以AlSi工作曲线(铝中添加硅镁钛锶)为例,建立类型校正程序,来自动补偿标准样品分析结果与标准值之间的差异。在选定工作条件下,Si、Fe、Mg、Ti、Sr、Zn、Ca 7个主要元素的分析结果相对误差符合GB/T7999-2007要求,完全满足日常分析要求。减少了做漂移校正的频次,不但能节约标准样品,还可有效提高分析数据的准确度,使连续作业的分析速度明显加快。
- 罗舜杨赟金杨海岸
