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尹敏
作品数:
7
被引量:1
H指数:1
供职机构:
昆明物理研究所
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相关领域:
电子电信
金属学及工艺
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合作作者
邵式平
昆明物理研究所
李鸿勋
昆明物理研究所
赵鹏
昆明物理研究所
冯江敏
昆明物理研究所
肖绍泽
昆明物理研究所
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碲镉汞材料
机构
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昆明物理研究...
作者
7篇
尹敏
1篇
王开元
1篇
肖绍泽
1篇
冯江敏
1篇
赵鹏
1篇
李鸿勋
1篇
邵式平
传媒
3篇
红外技术
3篇
半导体光电
1篇
半导体技术
年份
2篇
1998
1篇
1995
1篇
1994
1篇
1993
1篇
1992
1篇
1991
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光化学汽相淀积技术在薄膜备制中的应用
1998年
介绍了光化学汽相淀积法的原理以及用PVD-1000设备淀积薄膜的规律、特点等,并且给出了所淀积的SiO2膜、Si3N4膜和ZnS膜的基本特性。
尹敏
赵鹏
关键词:
半导体材料
CVD
HgCdTe光导芯片室温电阻率不稳定问题探讨
1993年
集中讨论 MCT 光导芯片电阻率随时间变化的问题。研究结果表明:MCT芯片中 Hg 原子的逐渐逸出导致了材料组分即 x 值随时间变化,这是芯片室温电阻率变化的主要原因;另外,在某些条件下(如加温),芯片表面可形成高浓度的 n 型载流子薄层,也将引起芯片的室温电阻率的变化。
尹敏
关键词:
电阻率
稳定性
自动焊接技术在SPRITE探测器内引线联接工艺中的应用
1998年
为使自动金丝球焊接技术应用于碲镉汞红外器件的研制工艺,在大量试验的基础上,摸索出了一套使用自动金丝球焊接技术进行SPRITE红外器件内引线焊接的可靠方法。文中还对自动焊接的精度和最小间距进行了探讨。
尹敏
冯江敏
李鸿勋
关键词:
自动焊机
SPRITE探测器
红外探测器
n型HgCdTe载流子双极迁移率测量
1995年
介绍了两种测量半导体材料载流子双极迁移率的原理和方法。用载流子漂移实验方法测量了n型Hg1-xCdxTe(x=0.2)材料在80K时的双极迁移率,讨论了测量条件对双极迁移率的影响。
邵式平
肖绍泽
尹敏
关键词:
碲镉汞材料
MCT光导器件芯片室温电阻率不稳定因素探讨
1994年
重点讨论x值在0.27附近的MCT光导器件芯片电阻率随时间变化的问题。认为:MCT芯片中Hg原子的逐渐逸出,导致材料x值随时间而变化是使芯片室温电阻率变化的主要原因;在某些条件下(如加温),芯片表面可以形成高浓度的n型薄层,从而对芯片的室温电阻率产生影响。
尹敏
王开元
关键词:
红外探测器
HgCdTe薄片中表面电阻的变化对其总电阻的影响
1992年
讨论了 HgCdTe 薄片当其厚度在20μm 左右时,表面与体内导电性质不同所出现的ρ-T 关系曲线,并与正常情况下的ρ-T 关系曲线比较。解释了某些 HgCdTe 薄片电阻率反常的原因。
尹敏
关键词:
电阻率
碲镉汞红外探测器芯片内引线的室温金丝球焊接技术
被引量:1
1991年
本文讨论了碲镉汞光导探测器芯片在室温下内引线的金丝球焊接问题。实验得出,器件内电极引线的室温金丝球焊是完全可行的。
尹敏
关键词:
碲镉汞
红外探测器
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