您的位置: 专家智库 > >

刘坤

作品数:2 被引量:12H指数:1
供职机构:合肥工业大学更多>>
发文基金:中央高校基本科研业务费专项资金国家自然科学基金国家高技术研究发展计划更多>>
相关领域:电子电信更多>>

文献类型

  • 2篇中文期刊文章

领域

  • 2篇电子电信

主题

  • 1篇电路
  • 1篇电路测试
  • 1篇三维集成电路
  • 1篇通孔
  • 1篇物理仿真
  • 1篇可测性
  • 1篇可测性设计
  • 1篇集成电路
  • 1篇集成电路测试
  • 1篇仿真
  • 1篇半物理仿真
  • 1篇RTW
  • 1篇SIMULI...
  • 1篇TSV
  • 1篇VXWORK...
  • 1篇
  • 1篇MATLAB
  • 1篇MATLAB...

机构

  • 2篇合肥工业大学

作者

  • 2篇刘坤
  • 1篇方芳
  • 1篇韩博宇
  • 1篇李润丰
  • 1篇王伟
  • 1篇陈田
  • 1篇王伟

传媒

  • 1篇合肥工业大学...
  • 1篇电子测量与仪...

年份

  • 1篇2015
  • 1篇2014
2 条 记 录,以下是 1-2
排序方式:
基于MATLAB/RTW的通信模块的设计与实现被引量:11
2015年
针对MATLAB/RTW的传统半物理仿真系统中仿真目标机向数据监控计算机传输数据的实时性问题,设计了一种采用改进的DEFLATE压缩算法的网络通信模块。仿真主控计算机通过RTW工具把网络通信模块生成能在仿真目标机上实时运行的目标程序,然后把模型中需要观察的仿真数据通过以太网实时发送到与仿真目标机相连的数据显示计算机中。通过实验数据对比,采用改进后的DEFLATE压缩算法比不采用压缩算法的网络通信模块在数据传输的实时性能上有明显提高。
刘坤方芳王伟
关键词:半物理仿真MATLABRTWVXWORKSSIMULINK
基于TSV的3D堆叠集成电路测试被引量:1
2014年
过硅通孔技术,提供了高密度、低延时和低功耗的垂直互连,芯片在三维方向堆叠的密度大、互连线短,从而使三维堆叠芯片成为可能。文章介绍了基于TSVs的三维堆叠芯片新的测试流程、TSVs绑定前测试的挑战和TSVs绑定后的可靠性与测试挑战,包括KGD与KGD晶圆级测试和老化、DFT技术、绑定前可测性、测试经济性、TSVs绑定后的可靠性和测试问题,以及三维集成独有的问题,并介绍了这一领域的早期研究成果。
韩博宇王伟刘坤刘坤陈田李润丰
关键词:三维集成电路可测性设计
共1页<1>
聚类工具0