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田东方

作品数：3 被引量：3H指数：1
供职机构：西安微电子技术研究所更多>>
相关领域：电子电信更多>>

合作作者

文献类型

  • 3篇中文期刊文章

领域

  • 3篇电子电信

主题

  • 2篇微模组件
  • 2篇MCM
  • 1篇电测
  • 1篇电测试
  • 1篇电路
  • 1篇多层基板
  • 1篇多芯片
  • 1篇多芯片组件
  • 1篇失效模式
  • 1篇芯片
  • 1篇芯片组件
  • 1篇军用
  • 1篇混合集成电路
  • 1篇基板
  • 1篇基极
  • 1篇集成电路
  • 1篇HIC
  • 1篇长寿命

机构

  • 3篇西安微电子技...

作者

  • 3篇李自学
  • 3篇田东方
  • 1篇孙泰仁
  • 1篇张俊超

传媒

  • 2篇微电子学与计...
  • 1篇电子元器件应...

年份

  • 1篇2000
  • 1篇1998
  • 1篇1996
共 3 条 记 录，以下是 1-3
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排序方式：
MCM基极电测试技术
1998年
对于复杂的MCM多层互连基板，电测试是控制成本、确保质量的关键环节。本文简要介绍了探针电阻、电容、电子束、潜在开路缺陷电测试及其测试技术的应用。
田东方李自学
关键词：电测试多层基板MCM微模组件
多芯片组件技术的发展被引量：3
1996年
本文综述了多芯片组件（ＭＣＭ）的制造工艺和设计技术的发展现状，展望了ＭＣＭ的应用前景．
李自学田东方孙泰仁张俊超
关键词：多芯片组件微模组件MCM
长寿命军用HIC的研究
2000年
本文通过对军用HIC主要失效模式的分析,指出有源器件失效、引线键合缺陷及沾污是引起军用HIC失效的主要原因,提出提高军用HIC寿命的有效措施。
田东方李自学
关键词：混合集成电路军用失效模式
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共1页<1>
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