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张鹤鸣

作品数:478 被引量:271H指数:9
供职机构:西安电子科技大学更多>>
发文基金:陕西省自然科学基金模拟集成电路国家重点实验室开放基金国家部委资助项目更多>>
相关领域:电子电信理学金属学及工艺电气工程更多>>

文献类型

  • 310篇专利
  • 138篇期刊文章
  • 30篇会议论文

领域

  • 161篇电子电信
  • 26篇理学
  • 7篇金属学及工艺
  • 3篇电气工程
  • 1篇机械工程
  • 1篇自动化与计算...
  • 1篇建筑科学
  • 1篇交通运输工程
  • 1篇环境科学与工...
  • 1篇一般工业技术

主题

  • 137篇应变SI
  • 104篇BICMOS
  • 96篇迁移率
  • 80篇双极器件
  • 65篇自对准
  • 64篇刻蚀
  • 59篇光刻
  • 57篇多晶
  • 53篇电路
  • 49篇SIGE
  • 48篇集成电路
  • 48篇沟道
  • 47篇SIGE_H...
  • 43篇晶面
  • 43篇空穴
  • 38篇迁移
  • 38篇空穴迁移率
  • 35篇淀积
  • 34篇发射区
  • 32篇电子迁移率

机构

  • 478篇西安电子科技...
  • 6篇佳木斯大学
  • 6篇中国电子科技...
  • 5篇北京精密机电...
  • 4篇河北普兴电子...
  • 3篇宝鸡文理学院
  • 2篇北京信息科技...
  • 2篇中电集团
  • 1篇安徽理工大学
  • 1篇辽宁工程技术...
  • 1篇重庆邮电大学
  • 1篇西安科技大学
  • 1篇西安石油大学
  • 1篇中国电子科技...
  • 1篇中国电子科技...
  • 1篇中国电子科技...
  • 1篇中华人民共和...
  • 1篇中国电子科技...

作者

  • 478篇张鹤鸣
  • 398篇胡辉勇
  • 321篇宋建军
  • 321篇宣荣喜
  • 250篇舒斌
  • 177篇戴显英
  • 170篇郝跃
  • 115篇王斌
  • 77篇吕懿
  • 70篇周春宇
  • 57篇李妤晨
  • 56篇王海栋
  • 33篇王冠宇
  • 21篇赵丽霞
  • 20篇苏汉
  • 17篇王伟
  • 16篇王喜媛
  • 16篇陈景明
  • 15篇秦珊珊
  • 13篇王晓艳

传媒

  • 59篇物理学报
  • 18篇西安电子科技...
  • 13篇Journa...
  • 8篇电子器件
  • 7篇电子科技
  • 7篇半导体技术
  • 7篇第十三届全国...
  • 6篇第十五届全国...
  • 5篇第十四届全国...
  • 4篇微电子学
  • 3篇电子学报
  • 3篇微纳电子技术
  • 2篇四川大学学报...
  • 2篇电子科技大学...
  • 2篇固体电子学研...
  • 2篇第十四届全国...
  • 1篇西北大学学报...
  • 1篇光子学报
  • 1篇微电子学与计...
  • 1篇沈阳工业大学...

年份

  • 1篇2023
  • 3篇2021
  • 13篇2020
  • 16篇2019
  • 31篇2018
  • 22篇2017
  • 25篇2016
  • 72篇2015
  • 24篇2014
  • 14篇2013
  • 92篇2012
  • 25篇2011
  • 22篇2010
  • 24篇2009
  • 10篇2008
  • 14篇2007
  • 6篇2006
  • 11篇2005
  • 16篇2004
  • 20篇2003
478 条 记 录,以下是 1-10
排序方式:
一种应变SiGe回型沟道NMOS集成器件及制备方法
本发明适用于NMOS集成器件,提供了一种应变SiGe回型沟道NMOS集成器件,及用微米级工艺制备所述应变SiGe回型沟道NMOS集成器件的制备方法,所述制备方法过程为:在衬底上连续生长Si外延层、第一应变SiGe轻掺杂源...
胡辉勇宣荣喜张鹤鸣宋建军吕懿王海栋王斌郝跃
文献传递
一种应变SiGe HBT垂直沟道BiCMOS集成器件及制备方法
本发明公开了一种应变SiGe HBT垂直沟道BiCMOS集成器件及制备方法,首先在Si衬底片上制备埋层,生长N-Si作为双极器件集电区,光刻基区,在基区区域生长P-SiGe、i-Si、i-Poly-Si,制备深槽隔离,形...
宋建军胡辉勇舒斌王海栋张鹤鸣宣荣喜郝跃
文献传递
一种双多晶双应变混合晶面Si基BiCMOS集成器件及制备方法
本发明公开了双多晶双应变混合晶面Si基BiCMOS集成器件及制备方法,首先制备SOI衬底,上层基体材料为(110)晶面,下层基体材料为(100)晶面;生长N-Si作为双极器件集电区,光刻基区,在基区区域生长P-SiGe/...
张鹤鸣吕懿胡辉勇王海栋宋建军宣荣喜舒斌郝跃
文献传递
Si/Ge超晶格量子级联激光器及其制备方法
本发明公开了一种Si/Ge超晶格量子级联激光器及其制备方法,该激光器从下往上依次包括硅衬底、Si<Sub>0.5</Sub>Ge<Sub>0.5</Sub>缓冲层、硅锗超晶格和SiO<Sub>2</Sub>,在硅锗超晶格...
舒斌吴继宝古牧范林西陈景明张鹤鸣宣荣喜胡辉勇宋建军王斌
(001)面任意方向单轴应变硅材料能带结构被引量:6
2011年
首先计算了(001)晶面单轴应变张量,在此基础上采用结合形变势理论的K·P微扰法建立了在(001)晶面内受任意方向的单轴压/张应力作用时,应变硅材料的能带结构与应力(类型、大小)及晶向的关系模型,进而分析了不同单轴应力(类型、大小)及晶向对应变硅材料导带带边、价带带边、导带分裂能、价带分裂能、禁带宽度的影响.研究结果可为单轴应变硅器件应力及晶向的选择设计提供理论依据.
马建立张鹤鸣宋建军王冠宇王晓艳
单轴应变Si n型金属氧化物半导体场效应晶体管源漏电流特性模型被引量:1
2015年
本文在建立单轴应变Si n型金属氧化物半导体场效应晶体管迁移率模型和阈值电压模型的基础上,基于器件不同的工作区域,从基本的漂移扩散方程出发,分别建立了单轴应变Si NMOSFET源漏电流模型.其中将应力的影响显式地体现在迁移率和阈值电压模型中,使得所建立的模型能直观地反映出源漏电流特性与应力强度的关系.并且对于亚阈区电流模型,基于亚阈区反型电荷,而不是采用常用的有效沟道厚度近似的概念,从而提高了模型的精度.同时将所建模型的仿真结果与实验结果进行了比较,验证了模型的可行性.该模型已经被嵌入进电路仿真器中,实现了对单轴应变Si MOSFET器件和电路的模拟仿真.
吕懿张鹤鸣胡辉勇杨晋勇殷树娟周春宇
关键词:迁移率阈值电压
漏致势垒降低效应对短沟道应变硅金属氧化物半导体场效应管阈值电压的影响
2011年
结合应变硅金属氧化物半导体场效应管(MOSFET)结构,通过求解二维泊松方程,得到了应变Si沟道的电势分布,并据此建立了短沟道应变硅NMOSFET的阈值电压模型.依据计算结果,详细分析了弛豫Si1-βGeβ中锗组分β、沟道长度、漏电压、衬底掺杂浓度以及沟道掺杂浓度对阈值电压的影响,从而得到漏致势垒降低效应对小尺寸应变硅器件阈值电压的影响,对应变硅器件以及电路的设计具有重要的参考价值.
王晓艳张鹤鸣王冠宇宋建军秦珊珊屈江涛
关键词:阈值电压模型
可嵌入PSPICE软件的SiGe HBT等效电路模型
本文基于SiGeHBT的物理模型,建立了描述SiGeHBT的大信号等效电路模型.该等效电路模型考虑了准饱和效应和自热效应等,模型分为本征和非本征两部分,物理意义清晰,拓扑结构相对简单.本文将该模型嵌入了PSPICE软件的...
区健锋张鹤鸣胡辉勇戴显英宣荣喜俞智刚王喜媛
关键词:SIGE异质结双极晶体管等效电路模型PSPICE
文献传递
SiGe HBT大信号扩散电容模型研究
2006年
基于SiGeHBT(异质结双极晶体管)大信号等效电路模型,建立了SiGeHBT大信号发射结扩散电容模型和集电结扩散电容模型。该模型从SiGeHBT正反向传输电流出发,研究晶体管内可动载流子所引起的存储电荷(包括正向存储电荷和反向存储电荷)的基础上,同时考虑了厄利效应对载流子输运的影响,其物理意义清晰,拓扑结构简单。将基于大信号扩散电容模型的SiGeHBT模型嵌入PSPICE软件中,实现对SiGeHBT器件与电路的模拟分析。对该模型进行了直流特性模拟分析,直流模拟分析结果与文献报道的结果符合得较好,瞬态特性分析结果表明响应度好。
胡辉勇张鹤鸣戴显英宣荣喜李立姜涛
关键词:SIGE异质结双极晶体管存储电荷PSPICE
用于SiGe材料生长的新型UHV/UV/CVD系统被引量:5
2000年
介绍了新近研制的用于 Si Ge材料生长的超高真空 ( UHV) /紫外光 ( UV) /能量辅助 CVD工艺系统。
刘洪宁孙建诚胡辉勇张鹤鸣
关键词:硅锗超高真空化学气相淀积
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