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陈玮玮

作品数：2 被引量：1H指数：1
供职机构：中国工程物理研究院电子工程研究所更多>>
相关领域：电子电信兵器科学与技术更多>>

合作作者

文献类型

  • 1篇期刊文章
  • 1篇会议论文

领域

  • 1篇电子电信
  • 1篇兵器科学与技...

主题

  • 1篇电流
  • 1篇性能分析
  • 1篇元器件
  • 1篇自击穿电压
  • 1篇武器
  • 1篇武器设备
  • 1篇脉冲大电流
  • 1篇可靠性
  • 1篇击穿
  • 1篇大电流

机构

  • 2篇中国工程物理...

作者

  • 2篇陈玮玮
  • 1篇李其海
  • 1篇黄琨
  • 1篇陈勇

传媒

  • 1篇高电压技术
  • 1篇四川省电子学...

年份

  • 1篇2014
  • 1篇2003
共 2 条 记 录，以下是 1-2
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排序方式：
国内外元器件贮存寿命研究现状
基于武器设备元器件贮存寿命评估的三种方法:长期自然贮存寿命试验、加速寿命试验以及加速退化试验,阐述了各种试验的优缺点,分析了元器件贮存寿命在国内外的研究现状及国内外相关领域的差距,并对国内元器件贮存寿命研究进行了展望.
李其海陈玮玮黄琨
关键词：武器设备元器件可靠性
文献传递
小型高压冷阴极触发管性能分析被引量：1
2003年
介绍了一种能承受数千安培脉冲大电流的小型高压冷阴极触发管 ,分析和讨论了影响其特性 (导通时间、自击穿电压、击穿电压 )的因素 ,着重阐述了导通时间的影响因素即间隙电压越高 ,触发脉冲能量越大 。
陈玮玮陈勇
关键词：性能分析自击穿电压脉冲大电流
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共1页<1>
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