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年卫鹏

作品数：1 被引量：3H指数：1
供职机构：西安微电子技术研究所更多>>
相关领域：电子电信更多>>

合作作者

文献类型

  • 1篇中文期刊文章

领域

  • 1篇电子电信

主题

  • 1篇电路
  • 1篇气密
  • 1篇气密封装
  • 1篇气密性
  • 1篇可靠性
  • 1篇检漏
  • 1篇封装

机构

  • 1篇西安微电子技...

作者

  • 1篇李自学
  • 1篇任爱华
  • 1篇年卫鹏

传媒

  • 1篇电子元器件应...

年份

  • 1篇2005
共 1 条 记 录，以下是 1-1
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排序方式：
气密性对电路内部水气含量的影响被引量：3
2005年
详细分析电路的检漏过程,剖析漏率测量和电路内部水气含量之间的关系。通过有针对性的预防措施,减小检漏过程对电路内部水气含量的影响,使电路内部的水气含量基本满足GJB548A要求。
任爱华李自学年卫鹏
关键词：检漏气密封装可靠性
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共1页<1>
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