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卢晓青

作品数:13 被引量:15H指数:2
供职机构:中国航空综合技术研究所更多>>
发文基金:中国航空科学基金更多>>
相关领域:自动化与计算机技术一般工业技术航空宇航科学技术电子电信更多>>

文献类型

  • 8篇专利
  • 4篇期刊文章
  • 1篇会议论文

领域

  • 2篇自动化与计算...
  • 2篇一般工业技术
  • 1篇电子电信
  • 1篇电气工程
  • 1篇航空宇航科学...
  • 1篇理学

主题

  • 6篇电子元
  • 6篇电子元器件
  • 6篇元器件
  • 6篇塑封
  • 5篇定位装置
  • 3篇扫描检测系统
  • 3篇扫描显微镜
  • 3篇塑封器件
  • 3篇浸水
  • 3篇检漏
  • 2篇造影
  • 2篇造影剂
  • 2篇真空渗透
  • 2篇三维CT
  • 2篇皮筋
  • 2篇螺钉
  • 2篇密封性
  • 2篇可调式
  • 2篇固定螺钉
  • 2篇航空

机构

  • 13篇中国航空综合...
  • 1篇中国石油天然...
  • 1篇北京三星通信...

作者

  • 13篇卢晓青
  • 12篇蔡良续
  • 11篇路浩天
  • 5篇梁媛
  • 4篇杨洋
  • 3篇李鹏
  • 2篇赵辛雨
  • 2篇张祥春
  • 1篇张辉
  • 1篇李慧娟
  • 1篇李鹏

传媒

  • 2篇电子产品可靠...
  • 1篇CT理论与应...
  • 1篇装备环境工程

年份

  • 1篇2018
  • 4篇2016
  • 4篇2014
  • 1篇2013
  • 2篇2012
  • 1篇2011
13 条 记 录,以下是 1-10
排序方式:
不同内腔体积元器件密封性检测压力选择
文章介绍了GJB548不同版本中利用固定方法对器件进行密封性检测时的压力选用原则。利用3维微焦点断层扫描方法对器件内腔体积进行精确测量,分别根据两版标准对器件施加不同压力,利用氦质谱检漏方法对两种压力条件下的器件进行检测...
李慧娟张祥春卢晓青路浩天
关键词:电子元器件密封性检测
一种声学扫描显微镜检测系统分离式器件定位装置
本发明是一种声学扫描显微镜检测系统分离式器件定位装置。本装置包括:自粘垫板、样品盒、定位螺钉、定位块、装置底座。通过上述装置,可以有效解决塑封器件在声学扫描检测系统调节阶段浸水性以及塑封器件被检过程中检测探头快速移动引起...
梁媛蔡良续卢晓青杨洋李鹏路浩天
文献传递
一种光学检漏测试系统可调式定位装置
本实用新型是一种光学检漏测试系统可调式定位装置,该装置包括底座、防静电海绵基体、长分隔管、短分隔管、固定皮筋、固定螺钉。通过上述装置,可以有效解决电子元器件光学检漏测试时,被检器件管脚损伤,及在测试台上的位置不能保证与软...
梁媛赵辛雨蔡良续卢晓青
文献传递
塑封电子元器件X射线造影检测方法
本发明属于产品的无损检测技术领域,涉及一种用于检测塑封电子元器件封装缺陷的塑封电子元器件X射线造影检测方法。本方法通过采用按照电子元器件结构特点所选用的新型造影剂和真空渗透技术,可以精确的测量样品的深度和宽度,提高了电子...
路浩天卢晓青蔡良续
一种声学扫描显微镜检测系统分离式器件定位装置
本发明是一种声学扫描显微镜检测系统分离式器件定位装置。本装置包括:自粘垫板、样品盒、定位螺钉、定位块、装置底座。通过上述装置,可以有效解决塑封器件在声学扫描检测系统调节阶段浸水性以及塑封器件被检过程中检测探头快速移动引起...
梁媛蔡良续卢晓青杨洋李鹏路浩天
文献传递
一种声学扫描显微镜检测系统分离式器件定位装置
本实用新型是一种声学扫描显微镜检测系统分离式器件定位装置。该定位装置包括一个底座(5)和成排地安装在底座(5)上的样品盒(2),每个样品盒(2)上加工有三个在水平方向构成等边三角形的螺纹通孔(10),这三个螺纹通孔(10...
梁媛蔡良续卢晓青杨洋李鹏路浩天
文献传递
X射线三维CT技术在元器件失效分析中的应用被引量:8
2012年
通过比较X射线DR,普通断层CT技术,扫描声学显微镜的功能特点,分析了X射线三维CT技术的优势。通过对焊接空洞、微动开关失效案例以及不同封装形式器件的分析,研究了X射线三维CT技术在电子元器件失效分析领域的应用。同时根据X射线三维CT成像的特点,分析了该技术发展的前景。
路浩天卢晓青张祥春蔡良续吴琼张辉
关键词:电子元器件
一种光学检漏测试系统可调式定位装置
本发明是一种光学检漏测试系统可调式定位装置,该装置包括底座、防静电海绵基体、长分隔管、短分隔管、固定皮筋、固定螺钉。通过上述装置,可以有效解决电子元器件光学检漏测试时,被检器件管脚损伤,及在测试台上的位置不能保证与软件定...
梁媛赵辛雨蔡良续卢晓青
文献传递
塑封电子元器件X射线造影检测方法
本发明属于产品的无损检测技术领域,涉及一种用于检测塑封电子元器件封装缺陷的塑封电子元器件X射线造影检测方法。本方法通过采用按照电子元器件结构特点所选用的新型造影剂和真空渗透技术,可以精确的测量样品的深度和宽度,提高了电子...
路浩天卢晓青蔡良续
文献传递
塑封电子元器件温度失效机理研究被引量:6
2012年
应用非破坏性检测技术和破坏性显微分析技术对塑封电子元器件在温度循环试验中发生的失效进行了分析,通过研究缺陷发展的过程并结合现有检测标准要求,提出了对器件设计改进和完善现有检测标准的建议。
路浩天卢晓青蔡良续
关键词:塑料封装温度效应
共2页<12>
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