刘道广 作品数:72 被引量:88 H指数:6 供职机构: 清华大学 更多>> 发文基金: 国家自然科学基金 模拟集成电路国家重点实验室开放基金 国防科技技术预先研究基金 更多>> 相关领域: 电子电信 自动化与计算机技术 电气工程 更多>>
MOS器件开启电压值的贝叶斯统计推断 2020年 在实践中准确地测定和表征出MOS器件样管的开启电压,对于大规模集成电路的设计以及将MOS器件作为分立器件的在电路应用,均是至关重要的。文章采用贝叶斯统计推断工具用于器件输入曲线的处理,从中提取出与器件开启有关的更为精准和深入的信息。建立合适的分层模型,应用基于马尔科夫链蒙特卡罗(MCMC)算法的最大后验估计(MAP),求取目标量的后验分布。这类算法为目前概率与统计领域的最高级算法。将该先进算法引入到IC领域来分析处理所获取的大数据是后摩尔时代的一个发展方向。 严利人 刘道广 刘志弘 梁仁荣关键词:开启电压 最大后验估计 后验分布 横向尺寸的变化对SiGe HBT高频噪声的影响(英文) 被引量:1 2007年 从发射极条宽、发射极条长、基极条数、发射极与基极间距四个方面分析了横向尺寸变化对SiGe HBT高频噪声的影响。结果表明增加发射极条长、基极条数和减小发射极与基极间距可以较为有效地减小晶体管噪声,而减小发射极与基极间距对噪声的改善效果比较显著。发射极与基极间距从1μm减小到0.5μm,2GHz工作频率下最小噪声系数可减小9dB,在0.5GHz工作频率下最小噪声系数可降至1.5dB,2GHz工作频率下最小噪声系数为3dB。 高攀 张万荣 邱建军 杨经纬 金冬月 谢红云 张静 张正元 刘道广 王健安 徐学良关键词:HBT SIGE 具有扩散缓冲层的高压快速软恢复二极管的制造方法 本发明公开了属于半导体器件范围的一种具有扩散型缓冲层的高压快速软恢复二极管的制造方法。扩散缓冲层快恢复二极管采用两次扩散方法制作缓冲层,在PN结和电极制备之前,首先采用一次磷扩散,在硅片两面生成低浓度和深结深的磷扩散区,... 周伟松 刘道广 张斌 王培清文献传递 基于AlGaN/GaNHEMT的功率放大器的研究进展 被引量:3 2005年 介绍了几类常见的基于AlGaN/GaNHEMT的微波功率放大器;论述了制造微波功率放大器的两种关键工艺技术———倒装芯片集成(FCIC)和共平面线(CPW);分析了自行研制的微波功率放大器核心器件AlGaN/GaNHEMT的性能。 王冲 刘道广 郝跃 张进城关键词:微波功率放大器 微波集成电路 ALGAN/GAN 基于NiZn铁氧体磁膜的RF平面微电感 采用与集成电路工艺兼容的硅基工艺,制备了一种基于Ni0.4Cu0.2Zn0.4Fe2O4结构的RF平面微电感,结构形式为SiO2绝缘层/NiCuZn铁氧体磁膜层/SiO2绝缘层/Cu线圈。对Ni0.4Cu0.2Zn0.4... 刘锋 杨晨 任天令 刘理天 刘道广关键词:射频器件 金属材料 基于微电子技术的高压大功率NPN开关晶体管技术研究 本文基于微电子技术开发研制出了400V/500A的大功率晶体管又名巨型晶体管(Giant Transistor,简称GTR)。通过电参数测试:VceR≥400V,Vebo≥8V,在Ib=10A条件下测试,Ic最大达到17... 刘道广 陈思敏 周伟松 王均平 黄新 张斌 王培清关键词:微电子技术 大功率晶体管 开关晶体管 电参数测试 文献传递 基于BiCMOS技术高速数字/模拟转换器研究 本文基于BiCMOS技术,开展了高速数字/模拟转换器研究.以并行输入类型,电流工作模式的16位D/A转换器位载体,开展了电路设计,工艺制作和测试;在±5.0V工作电压下,测试得到转换速率≥30MSPS,建立时间50ns,... 刘道广 舒曼 徐婉静 徐世六 李荣强 石建刚 何开全 刘玉奎 谭开州 张静 杨秋冬 钟怡关键词:集成电路 数模转换 芯片设计 文献传递 功率金属氧化物半导体场效应晶体管 本发明提供了功率金属氧化物半导体场效应晶体管,该功率MOSFET包括:衬底、外延区、阱区、源区、沟道区、栅介质、栅、隔离介质及源极金属,其中,沟道区的掺杂量不低于2e18/cm<Sup>3</Sup>。该功率MOSFET... 万欣 周伟松 刘道广 许军 薄涵亮 梁仁荣 王敬文献传递 Si/SiGe PMOS器件的模拟优化设计与样品研制(英文) 被引量:1 2001年 通过理论分析与计算机模拟 ,给出了以提高跨导为目标的 Si/ Si Ge PMOSFET优化设计方法 ,包括栅材料的选择、沟道层中 Ge组分及其分布曲线的确定、栅氧化层及 Si盖帽层厚度的优化和阈值电压的调节 ,基于此已研制出 Si/ Si Ge PMOSFET器件样品 .测试结果表明 ,当沟道长度为 2μm时 ,Si/ Si Ge PMOS器件的跨导为 45 m S/ mm(30 0 K)和 92 m S/ mm (77K) ,而相同结构的全硅器件跨导则为 33m S/ mm (30 0 K)和 39m S/ m m (77K) . 杨沛锋 李竞春 于奇 陈勇 谢孟贤 杨谟华 何林 李开成 谭开洲 刘道广 张静 易强 凡则锐关键词:锗硅 场效应晶体管 优化设计 PMOS器件 功率半导体器件辐射效应综述 被引量:6 2017年 功率半导体器件是航天器电源系统中的核心元件,太空环境中的粒子辐射会使其发生失效。首先,总结了硅功率半导体器件几种主要的辐射效应。然后,介绍了近年来一些新的研究成果和研究热点。最后,对第三代半导体功率器件中的辐射效应进行了简单介绍。 谭桢 魏志超 孙亚宾 万欣 晋虎 万慧君 王敬 刘道广 许军关键词:硅功率器件 总剂量效应 单粒子效应