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李继国
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供职机构:
河北半导体研究所
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相关领域:
电子电信
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合作作者
何大伟
河北半导体研究所
王长河
河北半导体研究所
李用兵
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EMP对GaAs器件毁伤作用机理研究
介绍了GaAs器件在EMP情况下的毁伤阈值和毁伤机理,并用实验验证器件软损伤的可靠性。
李用兵
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李继国
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EMP
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双极晶体管中子辐照测量分析
1989年
本文讨论了双极晶体管在瞬时中子辐照时测试条件变化对测试电流增益h_(FE)的影响,并利用稳态中子源上的测试结果对其进行评估。
李继国
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双极晶体管
中子辐照
EMP对GaAs器件毁伤作用机理研究
本文研究了EMP对GaAs器件毁伤作用的机理,介绍了GaAs器件在EMP情况下的毁伤阈值和毁伤机理,并用实验验证器件软损伤的可靠性.
李用兵
王长河
李继国
何大伟
关键词:
砷化镓器件
电磁脉冲
文献传递
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