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彭挺

作品数:3 被引量:0H指数:0
供职机构:武汉大学物理科学与技术学院加速器实验室更多>>
发文基金:国家基础科学人才培养基金国家自然科学基金更多>>
相关领域:理学电子电信更多>>

文献类型

  • 2篇期刊文章
  • 1篇会议论文

领域

  • 2篇理学
  • 1篇电子电信

主题

  • 2篇离子注入
  • 1篇导体
  • 1篇电子迁移率
  • 1篇调制掺杂
  • 1篇射线衍射
  • 1篇透射电子显微...
  • 1篇迁移率
  • 1篇稀磁半导体
  • 1篇晶体管
  • 1篇二维电子
  • 1篇二维电子气
  • 1篇分子束
  • 1篇分子束外延
  • 1篇分子束外延生...
  • 1篇高电子迁移率
  • 1篇高电子迁移率...
  • 1篇半导体
  • 1篇SI
  • 1篇TEM
  • 1篇X射线衍射

机构

  • 3篇武汉大学
  • 1篇中国科学院上...

作者

  • 3篇彭挺
  • 2篇郭立平
  • 2篇彭国良
  • 1篇刘昌
  • 1篇李铁成
  • 1篇梅菲
  • 1篇叶舟
  • 1篇艾志伟
  • 1篇欧阳中亮
  • 1篇文闻
  • 1篇黎明
  • 1篇何庆
  • 1篇潘杨
  • 1篇张文勇

传媒

  • 1篇武汉大学学报...
  • 1篇核技术
  • 1篇中国真空学会...

年份

  • 1篇2010
  • 1篇2009
  • 1篇2006
3 条 记 录,以下是 1-3
排序方式:
Mn离子注入Si材料的结构分析及磁学性质
2009年
采用剂量分别为1×1016(1E16),3×1016(3E16)和5×1016cm-2(5E16)的Mn离子注入方法制备Si基稀磁半导体样品.利用透射电子显微镜(TEM)和交变梯度磁强计(AGM)对不同剂量的样品退火前后的结构和磁学特性的变化进行了表征.实验发现,退火前,只有5E16样品出现球状偏析物,其直径在5 nm左右,但也有个别直径15 nm左右的大团簇.N2环境下800℃退火5 min部分修复了1E16样品注入区域的晶格损伤,并使该剂量样品出现偏析物,直径多在10 nm左右.衍射花样分析表明该偏析物为具有晶面间距0.333,0.191和0.163 nm的微晶,这说明该微晶最有可能是MnSi1.7.退火前,样品饱和磁化强度随注入剂量增大而显著增强,但从3E16到5E16增速放缓,退火使低剂量样品磁性大幅减弱,说明偏析物不利磁性增强.
郭立平欧阳中亮彭国良叶舟黎明彭挺潘杨
关键词:离子注入
分子束外延生长AlGaN/GaN高电子迁移率晶体管
Ⅲ族氮化物材料不仅在光电子领域得到迅猛发展,而且在制备高温、大功率微波电子器件方面也显示了优异性能。GaN、AlN及其三元合金材料AlGaN具有禁带宽、电子漂移速率高、击穿电场强、热导率高、不易热分解、耐腐蚀、抗辐照等特...
梅菲彭挺刘昌
关键词:分子束外延GAN调制掺杂二维电子气
文献传递
离子注入制备Si_xMn_(1-x)稀磁半导体的X射线衍射
2010年
把1×1016/cm2的200keVMn离子注入p型Si单晶(100)片中,在N2气氛下进行600℃、700℃、800℃和900℃退火,制得SixMn1-x稀磁半导体。用同步辐射X射线衍射技术研究样品结构,发现Mn的注入和退火导致了Si结晶颗粒的产生,随退火温度升高,间隙位的Mn原子逐渐减少,替代位的Mn原子增加,同时晶格发生膨胀。间隙位和替代位Mn原子间的相互作用导致样品的铁磁性增强。
彭国良李铁成张文勇彭挺艾志伟郭立平何庆文闻
关键词:稀磁半导体离子注入X射线衍射
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