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张镭

作品数:17 被引量:38H指数:3
供职机构:上海交通大学更多>>
发文基金:美国国家科学基金国家教育部博士点基金更多>>
相关领域:电子电信自动化与计算机技术更多>>

文献类型

  • 16篇期刊文章
  • 1篇学位论文

领域

  • 13篇电子电信
  • 5篇自动化与计算...

主题

  • 12篇电路
  • 9篇逻辑综合
  • 7篇集成电路
  • 5篇映射
  • 5篇工艺映射
  • 3篇组合逻辑
  • 3篇组合逻辑电路
  • 3篇逻辑电路
  • 3篇OBDD
  • 2篇电路测试
  • 2篇数字集成电路
  • 2篇逻辑函数
  • 2篇FPGA
  • 2篇大规模集成电...
  • 1篇电路结构
  • 1篇电路设计
  • 1篇优化算法
  • 1篇数集
  • 1篇数字系统
  • 1篇图论

机构

  • 17篇上海交通大学

作者

  • 17篇张镭
  • 16篇吕宗伟
  • 16篇林争辉

传媒

  • 6篇上海交通大学...
  • 5篇计算机辅助设...
  • 4篇微电子学
  • 1篇计算机工程与...

年份

  • 2篇2003
  • 3篇2002
  • 8篇2001
  • 4篇2000
17 条 记 录,以下是 1-10
排序方式:
基于动态标记的FPGA延迟优化算法
2001年
DAG- MAP是一个面向延迟优化的 FPGA工艺映射算法 ,其中的标记过程是该算法的核心 .文中对原算法中的标记过程进行了研究 ,提出了一个改进的标记方法 .对 MCNC标准测试电路所做实验的结果表明 ,该算法比原算法更为有效 。
吕宗伟林争辉张镭
关键词:逻辑综合FPGA工艺映射VLSI
一种新的计算最大允许函数集的方法
2000年
变换化简法是一种通过计算逻辑网络中门或连线处的最大允许函数集来消除网络中冗余门或连线的多级逻辑优化算法。文中提出了一种新的计算门处最大允许函数集的方法。该方法通过计算逻辑网络中门处的可观测性无关项较为容易得到最大允许函数集。实验结果表明,该方法在计算时间上明显优于原来的计算方法。
吕宗伟张镭林争辉
关键词:逻辑优化
逻辑综合中工艺映射的研究
逻辑综合是数字电路设计中极为重要的环节,而工艺映射是完成这个环节最为重要的一步.该文对以下几方面进行了研究:1、以往,检测变量对称通过判断两个相关布尔函数的BDD图是否同构.我们提出一种算法,检测变量对称与否只需建立一个...
张镭
关键词:逻辑综合数字集成电路工艺映射
文献传递
对DAG-MAP算法的研究
2000年
DAG-MAP是一个面向延迟优化的FPGA工艺映射算法,其中的标记过程是该算法的核心.文章对原算法中的标记过程进行了研究,并且提出了一个改进的标记方法.通过对MCNC标准测试电路的实验结果表明该算法比原算法更为有效,并且算法所用时间没有明显的增加.
吕宗伟张镭林争辉
关键词:逻辑综合FPGA工艺映射
组合逻辑电路时序安全可替换性
2001年
讨论了组合逻辑电路的时序安全可替换性问题 ,即如何判断一个组合逻辑电路可以替换另一个组合逻辑电路而电路的速度不会降低 .提出了一种新的判断时序安全可替换性的方法 .该方法通过计算组合逻辑电路的延迟特征函数的蕴涵关系来判断时序安全可替换性 ,避免了直接计算电路的精确延迟特征 ,从而提高了算法的效率 。
吕宗伟林争辉张镭
关键词:组合逻辑电路逻辑综合
逻辑综合中关键门的寻找
2001年
关键路径一直是电路性能优化的核心问题之一 .门的尺寸调整和插入缓冲器是时间优化的重要方法 .实际上 ,电路拓扑图中最长的路径不一定就是关键路径 ,只有在一定输入下能敏化的最长路径才是关键路径 .因此 ,仅仅按拓扑信息优化最长的路径不一定能真正提高电路的性能 .此外 ,仅仅利用 D-算法判断路径敏化有不足之处 .本文利用电路拓扑找出超出时间限制的路径 ,然后利用改进的 FAN算法—— T- FAN算法 ,提取关键门——即和电路整体延时有关系的门 ,为优化指出具体、准确的目标 .实验表明 ,改进的算法在保证优化效果的前提下 ,能平均减少 30 %~ 40 %优化对象 .
张镭林争辉吕宗伟
关键词:逻辑综合
递归学习寻找对称变量被引量:1
2002年
逻辑验证和逻辑综合中 ,利用对称变量的性质能提高算法整体的效率 .通常 fxixj=fxjxi被用来检验变量的对称性 .一般先分别建立 fxixj和 fxjxi的 BDD( Binary Decision Diagram)二分决策图 ,然后通过检查两 BDD图是否同构来验证 fxixj=fxjxi.但将电路转化为 BDD图本身就需要一定的时间 ,而且对于大的电路 ,存在 BDD图不能建立的可能性 ,致使同构验证无法进行 .本文利用递归学习 ,无需建立 BDD图直接在电路拓扑图上验证 fxixj=fxjxi.递归学习算法执行效率高 ,可以大大缩减对称变量检测的过程 .试验结果表明 ,利用递归学习算法检测对称变量执行时间减少 ,并且能将大的电路作为检测对象 .
张镭林争辉吕宗伟
关键词:逻辑集成电路逻辑函数
实现工艺映射的新方法被引量:3
2003年
 逻辑综合中,工艺映射是关键的一步。过去,基于树的映射由于其速度快、算法简洁而被广泛使用。但是,将电路结构划分为树,破坏了电路结构,缩小了映射的解空间。双态覆盖(BinateCovering)能充分利用门级网表的结构特性,使工艺映射后的电路具有更好的性能。
张镭林争辉吕宗伟
关键词:工艺映射逻辑综合电路结构
一种改进的多级逻辑优化算法被引量:2
2001年
基于变换化简法 ,提出了一种改进的适用于局部逻辑网络优化的多级逻辑优化算法 .通过计算逻辑网络中门或连线处的可观测性无关项 ,可迅速得到最大允许函数集 ,从而节省了计算时间 ,并且提高了原算法的适用性 .实验结果表明 ,改进后的算法可用于大规模集成电路的设计 .
吕宗伟林争辉张镭
关键词:集成电路计算机辅助设计逻辑综合
基于SBDD图的布尔匹配
2001年
在逻辑验证和综合中 ,布尔匹配利用有序二叉判定图 OBDD来检验两个给定的逻辑函数是否相等 .为了提高匹配算法的效率 ,文中用最小项数作为标签标定变量 (变量组 ) .对比两函数中变量 (变量组 )的“标签”,可以删除不可能的排序 ,从而加快匹配过程 .在提取变量标签时 ,提出简约二分决策图—— SBDD,并利用其节点少的特性进一步提高“标签”提取算法的效率 .实验结果表明本算法执行速度快 。
张镭吕宗伟林争辉
关键词:OBDD数字系统
共2页<12>
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