张小玲
- 作品数：149 被引量：267H指数：10
- 供职机构：北京工业大学更多>>
- 发文基金：国家自然科学基金国家重点基础研究发展计划国家自然科学基金创新研究群体项目更多>>
- 相关领域：电子电信自动化与计算机技术电气工程建筑科学更多>>
- 一次性锂电池电量预测技术研究被引量：1
- 2016年
- 针对在一次性锂电池电量预测方面所存在的不足,提出一种新型实用的一次锂电池SOC预测方案。该系统采用锁相放大技术设计一款交流内阻测量装置,采集锂电池交流内阻,根据交流内阻与SOC变化关系构建函数模型,并以该模型实现一次锂电池SOC预测。实验结果证明,该系统可有效用于一次性锂电池的电量预测,且测试结果较为可靠。
- 胥凯谢雪松张小玲
- 关键词：SOC锁相放大器
- 一种无破坏性的污水处理设备智能升级系统
- 一种无破坏性的污水处理设备智能升级系统，属于防爆级无线通信技术领域。系统包括设备端和PLC端，设备端与污水处理设备信号线路相连，用于在不破坏原设备的数据传输和正常工作时收集实时数据，并与PLC端进行双向信息传输，PLC端...
- 武利谢雪松张小玲谭宇航
- 文献传递
- Y型波导调制器高温存储特性研究
- 研究了Y型波导调制器的高温存储特性。经过120h的高温存储实验和后期的数据整理及分析,结果显示插入损耗变化范围在0·15dB至0·77dB,有随存储时间增加而增大的趋势,拟合增长率为0·00376dB/h。分束比在小于0...
- 王羽张小玲吕长志
- 关键词：光纤陀螺
- 文献传递
- 一种半导体器件微结构热阻的测量系统
- 本发明涉及一种半导体器件微结构热阻的测量系统，包括被测器件、温箱、数据采集模块、FPGA控制模块、接口模块、上位机和电流源模块。半导体器件中存在着微米特征尺寸的微结构，这种微结构在器件热量传递过程中承受热应力的能力直接关...
- 田策谢雪松张小玲冯睿睿
- 文献传递
- 一种新型的自平衡竖向加载试验装置
- 本实用新型公开了一种新型的自平衡竖向加载试验装置，属于力学加载试验技术领域。该装置用于桩基等工程结构物的竖向加载试验，加载装置由短螺杆、传力梁、传力螺杆、传力架和砝码挂钩组成。自平衡加载装置采用杠杆原理进行设计，当四个荷...
- 张小玲薛钧元
- 文献传递
- DC/DC电源模块可靠性的研究被引量：15
- 2010年
- 对当前较广泛应用的DC/DC电源模块这一多芯片组件(MCM)的可靠性进行了研究.通过对模块使用可靠性的统计,利用ANSYS软件对模块表面温度分布的模拟得出影响其可靠性的关键器件为垂直双扩散金属-氧化物-半导体场效应晶体管(VDMOS)和肖特基势垒二极管(SBD).使用以器件参数退化为基础的恒定电应力、序进温度应力加速寿命试验方法分别获得VDMOS和SBD的失效敏感参数为VDMOS的跨导gm和SBD的反向漏电流IR;VDMOS和SBD的平均寿命分别为1.47×107h和4.3×107h.分析表明,这2种器件参数的退化均与器件的Na+沾污和Si-SiO2界面的退化有关,同时SBD的参数退化还与Al-Si界面的退化有关.
- 吕长志马卫东谢雪松张小玲刘扬黄春益李志国
- 关键词：DC/DC电源模块可靠性加速寿命试验
- 不同工艺线性稳压器电离辐射效应及退火特性被引量：1
- 2014年
- 研究掺氯氧化+PE钝化、无氯氧化+PE钝化、掺氯氧化+BPSG钝化三种不同工艺线性稳压器的电离辐照响应及退火特性。实验结果发现,掺氯氧化+BPSG钝化工艺样品比其他两种工艺电离损伤明显减小,具有较强的抑制电离辐射损伤的能力。退火实验表明,辐射感生的界面态是影响稳压器电离辐射性能的主要因素,减少界面态可大大提高器件抑制电离辐射损伤的能力。
- 孙江超张小玲张彦秀谢雪松吕曼吕长志
- 关键词：线性稳压器电离辐射损伤
- AlGaN/GaN HEMT不同纵向结构的直流特性仿真
- 本文采用ISE仿真软件对AlGaN/GaNHEMT的不同纵向结构的直流特性进行仿真,得到常规、倒置和双异质结结构的最大跨导分别为369mS/mm,261mS/mm和495mS/mm,最大漏源电流分别为:681.21mA/...
- 张小玲谢雪松鲁小妹吕长志李志国
- 关键词：电子器件调制掺杂计算机仿真
- 文献传递
- 基于多片ADC的并行时间交替高速采样系统
- 基于多片ADC的并行时间交替高速采样系统属于通信领域，包括信号调理模块、信号采集模块、时钟产生与分配模块、逻辑控制模块、数据存储模块、接口模块、电源模块。模拟输入信号进入信号调理模块后，当模数转换器(ADC)收到时钟信号...
- 谢雪松朱文举张小玲刘晟豪
- 文献传递
- IGBT的进展、应用及其可靠性研究
- 简述了IGBT在国内外的发展概况,在各个领域的应用,其及可靠性研究的情况。
- 佘烁杰杜倩倩谢雪松张小玲吕长志
- 关键词：IGBT可靠性
- 文献传递
