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刘杰

作品数：1 被引量：8H指数：1
供职机构：北京航空航天大学更多>>
相关领域：电子电信更多>>

合作作者

文献类型

  • 1篇中文期刊文章

领域

  • 1篇电子电信

主题

  • 1篇SYSTEM...

机构

  • 1篇北京航空航天...

作者

  • 1篇刘杰
  • 1篇徐伟俊
  • 1篇夏宇闻
  • 1篇秦冀龙

传媒

  • 1篇中国集成电路

年份

  • 1篇2006
共 1 条 记 录，以下是 1-1
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排序方式：
设计验证中的随机约束被引量：8
2006年
随机约束在现代集成电路验证中已得到国际IC设计业界的普遍认可,并逐渐开始普及。与传统的定向测试比较,它在验证效率、验证覆盖率等方面具有诸多优势。最新公布的SystemVerilogIEEE标准中,包含了对随机约束的支持。本文举例说明了随机约束的优点、使用方法及其与断言和功能覆盖率相辅相成的关系。目前国内已有一些设计单位开始将随机约束应用于设计验证中,本文的宗旨是介绍我们的成功经验以推动这种新的验证方法在国内的推广和普及。
刘杰徐伟俊夏宇闻秦冀龙
关键词：SYSTEMVERILOG
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